[发明专利]一种荧光高光谱测试系统

权利要求书

1.一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：包括样品箱(11)和光源，所述光源包括氙灯光源(1)和卤素光源(13)，所述氙灯光源(1)位于样品箱(11)外，所述卤素光源(13)位于样品箱(11)的内壁上；所述样品箱(11)内的顶部设置有高光谱相机(10)，所述高光谱相机(10)连接有发射滤光片组(12)，所述样品箱(11)的下部设置有样品台(15)；所述样品箱(11)设置有反射镜(9)和第一角度调节支架，所述反射镜(9)通过第一角度调节支架固定在样品箱(11)的顶部；还包括光波导(4)和匀光装置，所述匀光装置包括第一聚焦透镜(2)、第二聚焦透镜(7)、导光管(6)、激发滤光片组(5)，所述光波导(4)的入光口和氙灯光源(1)的出光口相对设置，所述第一聚焦透镜(2)位于氙灯光源(1)的出光口处，所述导光管(6)的一端与光波导(4)的出光口连接，另一端与第二聚焦透镜(7)连接，所述第二聚焦透镜(7)与反射镜(9)的镜面相对设置。

2.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述氙灯光源(1)的出光口和光波导(4)的入光口之间设置有隔热装置(3)。

3.根据权利要求2所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述隔热装置(3)由若干块隔热片排列组成。

4.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述第二聚焦透镜(7)上设置有调焦旋钮(8)。

5.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述第一角度调节支架包括定位件和球形限位件，所述定位件内设置有限位腔和转动开口，所述球形限位件位于限位腔内，且与限位腔活动连接；所述球形限位件的一端伸出转动开口与反射镜(9)连接。

6.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述卤素光源(13)为四个，堆成设置于样品台(15)上方的四周。

7.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述样品台(15)的底部设置有升降装置(14)。

8.根据权利要求7所 述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述升降装置(14)为四根液压升降杆，四根液压升降杆分别位于样品台(15)底部的四角。

9.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述导光管(6)采用六边形的导光管。

10.根据权利要求1所述的一种荧光高光谱测试系统，其特征在于：所述光波导(4)为光导纤维。