[发明专利]一种荧光高光谱测试系统

说明书

本发明公开了一种荧光高光谱测试系统，本发明属于高光谱测试技术领域，涉及一种荧光高光谱测试系统。本发明的一种荧光高光谱测试系统，其光线依次通过第一聚焦透镜、光波导、激发滤光片组、导光管、第二聚焦透镜、反射镜、样品台、发射滤光片组，最后被高光谱相机捕捉，可为荧光高光谱成像提供较大面积的照射光斑，并使光线均匀的照射在样品上，增加成像效果，且避免了入射光直接照射样品带来损坏的问题，且光路互不影响，提高了检测的准确性；还可快速完成氙灯光源和卤素光源的切换，提高了工作效率。

技术领域

本发明属于高光谱测试技术领域，涉及一种荧光高光谱测试系统。

背景技术

高光谱成像技术是近二十年来发展起来的基于非常多窄波段的影像数据技术，其最突出的应用是遥感探测领域，并在越来越多的民用领域有着更大的应用前景。

高光谱成像技术的定义是在多光谱成像的基础上，在从紫外到近红外(200-2500nm) 的光谱范围内，利用成像光谱仪，在光谱覆盖范围内的数十或数百条光谱波段对目标物体连续成像。在获得物体空间特征成像的同时，也获得了被测物体的光谱信息。高光谱成像仪(也称光谱相机或高光谱相机、高光谱仪)，是将成像光谱仪和面阵探测器完美结合，可同时、快速获取光谱和影像信息的无损检测分析仪器。高光谱成像仪的主要组成部分有：准直镜、分光计、聚焦透镜、面阵探测器。

目前基于荧光检测的方式方法以及设备很多，借助激光、LED、氙灯等作为光源，当激发光与具有荧光特征的物质相互作用之后，会产生荧光信号，最后荧光信号被各种探测器检测到，并转换成能够识别的电信号，通过对光谱信号的研究可以分析被检测对象内部结构等的特性。

现有的荧光高光谱成像系统存在以下几点问题：1.光源切换的效率低；2.激光光源存在成本高，且易对被测样本产生损害；3.LED光源无法满足更多的波段选择。

因此，为了解决上述问题，本发明提出了一种荧光高光谱测试系统。

发明内容

本发明的目的在于：提供了一种荧光高光谱测试系统，解决了光源切换的效率低、激光光源存在成本高，且易对被测样本产生损害，以及LED光源无法提供更宽更多波段选择的问题。

本发明采用的技术方案如下：

一种荧光高光谱测试系统，包括样品箱和光源，所述光源包括氙灯光源和卤素光源，所述氙灯光源位于样品箱外，所述卤素光源位于样品箱的内壁上；所述样品箱内的顶部设置有高光谱相机，所述高光谱相机连接有发射滤光片组，所述样品箱的下部设置有样品台；所述样品箱设置有反射镜和第一角度调节支架，所述反射镜通过第一角度调节支架固定在样品箱的顶部；还包括光波导和匀光装置，所述匀光装置包括第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、导光管、激发滤光片组，所述光波导的入光口和氙灯光源的出光口相对设置，所述第一聚焦透镜位于氙灯光源的出光口处，所述导光管的一端与光波导的出光口连接，另一端与第二聚焦透镜连接，所述第二聚焦透镜与反射镜的镜面相对设置。

进一步地，所述氙灯光源的出光口和光波导的入光口之间设置有隔热装置。

进一步地，所述隔热装置由若干块隔热片排列组成。

进一步地，所述第二聚焦透镜上设置有调焦旋钮。

进一步地，所述第一角度调节支架包括定位件和球形限位件，所述定位件内设置有限位腔和转动开口，所述球形限位件位于限位腔内，且与限位腔活动连接；所述球形限位件的一端伸出转动开口与反射镜连接。

进一步地，所述卤素光源为四个，堆成设置于样品台上方的四周。

进一步地，所述样品台的底部设置有升降装置。

进一步地，所述升降装置为四根液压升降杆，四根液压升降杆分别位于样品台底部的四角。

进一步地，所述导光管采用六边形的导光管。