[发明专利]存储器检测系统、存储器检测方法及错误映射表建立方法

权利要求书

1.一种存储器检测方法，用以检测一待测装置的一存储器，其特征在于，该存储器检测方法包含：

读取对应该待测装置的一错误映射表，其中，该错误映射表包括一组映射位址数据及一组数据线数据，该组映射位址数据包括该存储器的多个映射位址，该组数据线数据包括该存储器的多个数据线的多个数据线名称，每一该数据线名称在该错误映射表中分别映射于每一该映射位址的每一位元；

对每一该映射位址写入一检查位元组；

读取每一该映射位址对应该检查位元组的一位址值；

判断每一该位址值的每一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值是否相同；以及

若判断至少一映射位址对应该检查位元组的该位址值的至少一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值不同，判断该存储器为故障，

读取对应该待测装置的该错误映射表的步骤之前，还进一步包括：

提供一测试治具，该测试治具包括一测试探针模块、一开关模块以及一微控制单元，其中，该开关模块连接于该测试探针模块与该微控制单元之间；

将该测试探针模块连接于一无故障待测装置的一无故障存储器的其中之一数据线；

通过该微控制单元控制该开关模块，以使该无故障存储器的该其中之一数据线、该测试探针模块与该开关模块之间形成短路；

通过该微控制单元以对该无故障存储器的一测试位址区间内的所有位址的写入一全1位元组；以及

通过该微控制单元以判断该测试位址区间内的所有位址对应该全1位元组的位址值是否为全1位元组。

2.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该检查位元组为全1位元组，且若判断至少一映射位址对应该检查位元组的该位址值的至少一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值不同，判断该存储器为故障的步骤之中，还进一步包括：

控制单元根据该错误映射表判断映射于该至少一位元的至少一该数据线为短路。

3.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该检查位元组为全0位元组，且若判断至少一映射位址对应该检查位元组的该位址值的至少一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值不同，判断该存储器为故障的步骤之中，还进一步包括：

控制单元根据该错误映射表判断映射于该至少一位元的至少一该数据线为开路。

4.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，读取对应该待测装置的该错误映射表的步骤之中，还进一步包括：

通过一输入单元接收一待测装置信息，以使控制单元根据该待测装置信息读取对应于该待测装置的该错误映射表。

5.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，通过该微控制单元以判断该测试位址区间内的所有位址对应该全1位元组的位址值是否为全1位元组的步骤之中，还进一步包括：

若该测试位址区间内的其中之一位址的位址值不为全1位元组，该微控制单元建立对应该待测装置的该错误映射表，并将该其中之一位址、以及该经短路处理的其中之一数据线的数据线名称存储于该错误映射表，且在该错误映射表中建立该其中之一位址、该其中之一位址的位址值中不为1的位元以及该经短路处理的其中之一数据线的数据线名称之间的映射关系。

6.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，通过该微控制单元以对该无故障存储器的该测试位址区间内的所有位址的写入该全1位元组的步骤中，还进一步包括：

以该微控制单元启动该无故障待测装置；

以该微控制单元读取该无故障存储器的一位址内容值表；以及

以该微控制单元根据该位址内容值表而选取该存储器的一位址区间以作为该测试位址区间，其中，该位址区间内所有位址的内容值为0。

7.如权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该无故障待测装置与该待测装置各具有一处理电路，且该无故障待测装置的该处理电路与该待测装置的该处理电路具有相同的电路结构，该无故障存储器与该存储器具有相同的数据宽度。