[发明专利]存储器检测系统、存储器检测方法及错误映射表建立方法

说明书

本发明提供一种存储器检测系统、存储器检测方法以及错误映射表建立方法。存储器检测方法包含：通过控制单元读取对应待测装置的错误映射表。错误映射表包括一组映射位址数据及一组数据线数据，其中，该组映射位址数据包括存储器的多个映射位址，该组数据线数据包括存储器的多个数据线名称，每一数据线名称在错误映射表中分别映射于每一映射位址的每一位元；以控制单元对所读取的每一映射位址写入一检查位元组；以控制单元读取每一映射位址因应检查位元组的一位址值；以及以控制单元判断每一位址值的每一位元的位元值与检查位元组中相对应的位元的位元值是否相同。

技术领域

本发明涉及一种检测系统及方法，尤其是涉及一种存储器检测系统、存储器检测方法以及用于存储器检测的错误映射表建立方法。

背景技术

一般而言，嵌入式系统的存储器设计为直接焊在主机板上，因此，不若一般模块形态存储器在出厂时就已完成测试，嵌入式系统的存储器测试是与主板的搭配测试一起完成。

一般用以测试组装电路主板的方式主要分成电性测试(In-Circuit Test,ICT)、功能测试(Function Verification Test,FVT)、自动光学检测(Automatic OpticalInspection,AOI)等。电性测试的实施方式为设计一探针治具，其上的每一探针分别对应到待测主板上预先设置的零件测试点。实际测试时，将探针与单独零件或多个零件通过测试点连接，而以各区域电路的等效电阻、电容、电感及电压等测量值作为依据来判断待测主板是否存在焊接不良、缺件、电性相反等工艺错误情形。电性测试(In-Circuit Test,ICT)不需将主板开机即能测试，且不需要经由专业电路设计人员来执行测试，因此可提高测试速度并降低成本。然而，探针治具成本高昂，且需要定期维护与更换。此外，以电性测试的方式需要在CPU与存储器之间额外增加测试点，对信号品质造成影响，同时也降低了主板布线利用率。并且，在主板配备多个存储器的情况下，这种测试方式终将拉长整体测试时间。

功能测试的实现方式为：将待测主板开机，并判读开机程序(Bootloader，或Bootcode)的开机输出信息。然而，开机程序的输出信息需要专业人员来判读，因此成本将提高。且当主板有加密机制的需求时，主板上的中央处理器(CPU)需要支援加密机制外，相关开机信息也会被预设为关闭，提高了判读难度。

发明内容

承上述，本发明所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种存储器检测系统、存储器检测方法以及用于存储器检测的错误映射表建立方法，用以检验存储器特定位址被写入检查位元组后的位址值是否与该检查位元组相同，并在不相同时对于错误映射表进行查表，借此判断存储器的故障情形。

为了达到上述目的，本发明所采用的其中一技术方案是提供一种存储器检测方法，以检测一待测装置的存储器，其中，存储器检测方法包含：读取对应该待测装置的一错误映射表，其中，该错误映射表包括：一组映射位址数据以及一组数据线数据，该组映射位址数据包括该存储器的多个映射位址，且该组数据线数据包括该存储器的多个数据线的多个数据线名称，其中，每一该数据线名称在该错误映射表中分别映射于每一该映射位址的每一位元；对所读取的每一该映射位址写入一检查位元组；读取每一该映射位址因应该检查位元组的一位址值；判断每一该位址值的每一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值是否相同；以及若判断至少一映射位址因应该检查位元组的该位址值的至少一位元的位元值与该检查位元组中相对应的位元的位元值不同，判断该存储器为故障。