[发明专利]用于集成电路测试设备的电触头及集成电路测试设备

权利要求书

1.一种用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,电触头包括：

带插座顶盖(32)的插座外壳(30)；

成排布置的多个接触引脚(10)，每个接触引脚包括弯曲的底表面(12)、与向上的凹陷部(15)相邻的下顶表面(14)、上顶表面(16)和接触尖端(18)；

由垂直部分(22)和水平部分(24)形成的细长可压缩构件(20)，垂直部分(22)设计成使得每个向上的凹陷部(15)紧密配合在其周围，并且水平部分(24)的底表面(242)与下顶表面(14)齐平接触，并且水平部分的顶表面(244)与插座顶盖(32)的一部分接触。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,上顶表面(16)和下顶表面(14)位于基本水平的平面上，并且上顶表面(16)定位成高于下顶表面(14)。

3.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,垂直部分(22)和水平部分(24)彼此相交处的压缩构件的内边缘(25)形成为弯曲部，并且接触引脚(10)还包括上顶表面(16)和向上的凹陷部(15)彼此相交处的钩(17)，使得钩(17)适于至少部分地抓在内边缘(25)上，从而基本上防止接触引脚(10)向下掉落。

4.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,垂直部分(22)与凹陷部(15)之间的摩擦用于防止接触引脚(10)向下掉落。

5.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,电触头处于未压缩状态时，上顶表面(16)与插座顶盖(32)的一部分接触，从而防止接触尖端(18)上升到预定高度以上。

6.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,邻近的下顶表面(14)的接触引脚(10)的垂直外表面(11)与插座外壳(30)具有足够的间隙，使得当向下按压接触尖端(18)时，接触引脚(10)的所产生的运动不会导致外表面(11)与插座外壳(30)接触。

7.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,向上凹陷部(15)包括凹形弯曲部，并且垂直部分(22)的底侧包括凸形弯曲部，凸形弯曲部与向上凹陷部(15)的凹形弯曲部匹配并紧密配合。

8.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,可压缩构件(20)的垂直部分(22)接合或“夹紧”凹陷部(15)，并因此将接触引脚(10)在水平方向上的运动限制在接触引脚在水平方向上的初始点或起始点的基点或“中心”周围的预定范围内。

9.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,在测试期间产生的压缩应力集中朝向水平部分(24)，而在测试期间产生的扭转应力集中在垂直部分(22)上。

10.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,随着被测器件下降到接触尖端(18)上，水平部分(24)受到压缩，这在垂直部分(22)中产生扭转力，然后扭转力转化为凹陷部(15)上的向下力，从而改善接触引脚(10)与负载板(40)之间的电接触。

11.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,随着被测器件下降到接触尖端(18)上，水平部分(24)受到压缩，这在垂直部分(22)中产生扭转力，扭转力然后转化成凹陷部(15)上的向外的力，从而使得接触引脚(10)沿着负载板(40)向外滑动。

12.根据权利要求1所述的用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,可压缩构件(20)由硅橡胶制成。

13.一种集成电路测试设备，其特征在于,包括围绕所述插座外壳(30)内的方形构造布置的四组如权利要求1所述的电触头。

14.根据权利要求1所述的集成电路测试设备，其特征在于,插座外壳由工程塑料制成。