[发明专利]一种光斑图像分析方法及装置在审
申请号: | 201910277303.0 | 申请日: | 2019-04-08 |
公开(公告)号: | CN109961438A | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 王雪辉;王建刚;胡松;许维 | 申请(专利权)人: | 武汉华工激光工程有限责任公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/32 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 秦曼妮 |
地址: | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光斑图像 分辨率 重采样 分析方法及装置 缩放率 预设 光斑 分析效率 应用 分析 | ||
1.一种光斑图像分析方法,其特征在于,所述方法包括:
获得待分析的光斑图像;
判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值;
若大于,根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率,计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率;按照重采样分辨率对所述光斑图像进行重采样;
根据光斑图像的缩放率和重采样后的光斑图像,计算光斑参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设阈值为X方向预设阈值,判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值,包括:
若所述光斑图像的X方向分辨率大于所述X方向预设阈值,判定所述光斑图像的分辨率大于预设阈值;否则,判定所述光斑图像的分辨率不大于预设阈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率,计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率,包括:
确定X方向重采样分辨率;
将X方向重采样分辨率与所述光斑图像的X方向分辨率的比值作为光斑图像的缩放率;
将所述光斑图像的缩放率与所述光斑图像的Y方向分辨率之积作为Y方向重采样分辨率。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,确定X方向重采样分辨率,包括:
将X方向预设阈值或者预设X方向长度作为X方向重采样分辨率。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设阈值包括X方向预设阈值和Y方向预设阈值,
判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值,包括:若所述光斑图像的X方向分辨率大于所述X方向预设阈值且所述光斑图像的Y方向分辨率大于所述Y方向预设阈值,判定所述光斑图像的分辨率大于预设阈值;否则,判定所述光斑图像的分辨率不大于预设阈值;
根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率,计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率,包括:确定X方向重采样分辨率、Y方向重采样分辨率;将X方向重采样分辨率与所述光斑图像的X方向分辨率的比值、将Y方向重采样分辨率与所述光斑图像的Y方向分辨率的比值分别作为光斑图像的X方向缩放率、Y方向分辨率。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光斑图像为探测器采集的原始图像,根据光斑图像的缩放率和重采样后的光斑图像,计算光斑参数,包括:
对重采样后的光斑图像进行预处理;
根据光斑图像的缩放率和预处理后的光斑图像,计算光斑参数。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,对重采样后的光斑图像进行预处理,包括:
从重采样后的光斑图像中截取出感兴趣区域;
对所截取的感兴趣区域进行光阑处理,得到光阑处理后的光斑图像。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,根据光斑图像的缩放率和预处理后的光斑图像,计算光斑参数,包括:
从预处理后的光斑图像中确定图像数组;用图像数组除以光斑图像的缩放率,得到目标图像数组;所述图像数组用于计算光束功率密度分布的一阶矩和二阶矩;
用目标图像数组计算光斑参数。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光斑图像为对原始图像进行以下处理所得的图像:从原始图像中截取出感兴趣区域;对感兴趣区域进行光阑处理,得到光阑处理结果。
10.一种光斑图像分析装置,其特征在于,所述装置包括:
获得模块,用于获得待分析的光斑图像;
判断模块,用于判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值;
重采样模块,用于在判断模块为是时,根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率,计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率;按照重采样分辨率对所述光斑图像进行重采样;
计算模块,用于根据光斑图像的缩放率和重采样后的光斑图像,计算光斑参数。
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