[发明专利]一种光斑图像分析方法及装置

说明书

本发明提供了一种光斑图像分析方法及装置，方法包括：获得待分析的光斑图像；判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值；若大于，根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率，计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率；按照重采样分辨率对所述光斑图像进行重采样；根据光斑图像的缩放率和重采样后的光斑图像，计算光斑参数。应用本发明实施例，提高了光斑图像分析效率。

技术领域

本发明涉及激光测试技术领域，尤其涉及一种光斑图像分析方法及装置。

背景技术

在光斑图像分析过程中，可以采用成像探测器设备来获取光束的光斑图像，然后根据光斑图像计算光斑的各项参数，如中心位置、长短轴、旋转角、椭圆率等等，有时还需要对参数进行长期的跟踪记录，以分析其稳定性。

由于激光光斑很小，所获得的图像上大部分都是空余的黑色区域，因此存在大量的干扰噪声，导致在计算光斑参数过程中运算量很大，例如，若计算的光斑参数为光束能量直径D4Sigma，由于该参数的计算过程中包含有图像数组的一阶矩和二阶矩，因此运算量更大。实际应用中，当输入的光斑图像分辨率达到1000*1000以上时，该计算过程可能会上升至秒级，而且由于计算过程中可能存在大量的迭代运算，导致分析效率很低，因此难以满足实际需求。

因此，有必要设计一种新的光斑图像分析方法，以克服上述问题。。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种光斑图像分析方法及装置，以实现提高光斑图像分析的效率。

本发明是这样实现的：

第一方面，本发明提供一种光斑图像分析方法，所述方法包括：

获得待分析的光斑图像；

判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值；

若大于，根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率，计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率；按照重采样分辨率对所述光斑图像进行重采样；

根据光斑图像的缩放率和重采样后的光斑图像，计算光斑参数。

可选的，所述预设阈值为X方向预设阈值，判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值，包括：

若所述光斑图像的X方向分辨率大于所述X方向预设阈值，判定所述光斑图像的分辨率大于预设阈值；否则，判定所述光斑图像的分辨率不大于预设阈值。

可选的，根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率，计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率，包括：

确定X方向重采样分辨率；

将X方向重采样分辨率与所述光斑图像的X方向分辨率的比值作为光斑图像的缩放率；

将所述光斑图像的缩放率与所述光斑图像的Y方向分辨率之积作为Y方向重采样分辨率。

可选的，确定X方向重采样分辨率，包括：

将X方向预设阈值或者预设X方向长度作为X方向重采样分辨率。

可选的，所述预设阈值包括X方向预设阈值和Y方向预设阈值，

判断所述光斑图像的分辨率是否大于预设阈值，包括：若所述光斑图像的X方向分辨率大于所述X方向预设阈值且所述光斑图像的Y方向分辨率大于所述Y方向预设阈值，判定所述光斑图像的分辨率大于预设阈值；否则，判定所述光斑图像的分辨率不大于预设阈值；

根据预设阈值和所述光斑图像的分辨率，计算重采样分辨率和光斑图像的缩放率，包括：确定X方向重采样分辨率、Y方向重采样分辨率；将X方向重采样分辨率与所述光斑图像的X方向分辨率的比值、将Y方向重采样分辨率与所述光斑图像的Y方向分辨率的比值分别作为光斑图像的X方向缩放率、Y方向分辨率。