[发明专利]应用于基板的AOI检测方法、装置、存储介质及AOI检测设备

权利要求书

1.一种应用于基板的AOI检测方法，应用于AOI检测设备中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取大基板上的多个小阵列基板的分布信息，所述分布信息包括每一所述小阵列基板的尺寸信息以及位置信息；

根据所述尺寸信息查询数据库以获取每一所述小阵列基板对应的目标检测精度值；

根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板，其中，所述检测设备在检测任一所述小阵列基板时采用与所述小阵列基板对应的目标检测精度值。

2.根据权利要求1所述的应用于基板的AOI检测方法，所述根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板的步骤包括：

根据每一所述小阵列基板的尺寸信息将所述多个小阵列基板分成多个集合，其中，每一集合中的小阵列基板的尺寸相同；

按照预设顺序采用对应的目标检测精度值依次对每一所述集合中的小阵列基板进行AOI检测。

3.根据权利要求2所述的应用于基板的AOI检测方法，所述按照预设顺序采用对应的目标检测精度值依次对每一所述集合中的小阵列基板进行AOI检测的步骤中：

进行OAI检测时的顺序为先检测按照小阵列基板的尺寸从小到大的顺序依次检测。

4.根据权利要求2所述的应用于基板的AOI检测方法，所述按照预设顺序采用对应的目标检测精度值依次对每一所述集合中的小阵列基板进行AOI检测的步骤中：采用调节所述检测头距离所述大基板的距离值的方式来调节不同的检测精度值。

5.根据权利要求4所述的应用于基板的AOI检测方法，其特征在于，所述根据所述尺寸信息查询数据库以获取每一所述小阵列基板对应的目标检测精度值的步骤之后还包括：

获取所述检测头在各个对应目标检测精度值下与所述大基板的距离值。

6.根据权利要求1所述的应用于基板的AOI检测方法，其特征在于，所述根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板的步骤包括：

按照所述多个小阵列基板的排布顺序，将所述检测头依次调节至对应小阵列基板的上方进行AOI检测，且每一次检测时，根据检测对象的尺寸信息将所述检测头的检测精度调整至对应的目标检测精度值。

7.一种应用于基板的AOI检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取大基板上的多个小阵列基板的分布信息，所述分布信息包括每一所述小阵列基板的尺寸信息以及位置信息；

第二获取模块，用于根据所述尺寸信息查询数据库以获取每一所述小阵列基板对应的目标检测精度值；

检测模块，用于根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板，其中，所述检测设备在检测任一所述小阵列基板时采用与所述小阵列基板对应的目标检测精度值。

8.根据权利要求7所述的应用于基板的AOI检测装置，其特征在于，所述检测模块包括：

划分单元，用于根据每一所述小阵列基板的尺寸信息将所述多个小阵列基板分成多个集合，其中，每一集合中的小阵列基板的尺寸相同；

检测单元，用于按照预设顺序采用对应的目标检测精度值依次对每一所述集合中的小阵列基板进行AOI检测。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行权利要求1至6任一项所述的应用于基板的AOI检测方法。

10.一种AOI检测设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行权利要求1至6任一项所述的应用于基板的AOI检测方法。