[发明专利]一种器件寿命测试平台与系统

权利要求书

1.一种器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台包括测试工作区、测试数据处理区以及测试数据采集区，所述测试工作区用于放置待检测器件，所述测试数据处理区与所述的测试工作区电连接，以向所述待检测器件输出正向或反向控制信号，所述测试数据采集区与所述测试工作区电连接；

所述测试数据采集区用于获取所述待检测器件的正向或者反向电压，并将获取的所述正向或者反向电压传输至所述测试数据处理区；

所述测试数据处理区用于当所述正向或者反向电压达到与预设定的电压值时，控制所述待检测器件间断的导通，直至所述待检测器件老化，以测试出所述待检测器件的寿命。

2.如权利要求1所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台还包括温度控制区，所述温度控制区与所述测试工作区连接，所述温度控制区用于维持所述待检测器件的温度。

3.如权利要求2所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述测试工作区设置有冷却板，所述待检测器件与所述冷却板连接，且所述冷却板与一冷却水管连接，所述温度控制区与所述冷却水管导通，所述温度控制区用于通过所述冷却水管控制所述冷却板的温度，以维持所述待检测器件的温度。

4.如权利要求3所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述测试工作区还包括温度检测装置，所述温度检测装置与所述温度控制区电连接，所述温度检测装置用于测量所述待检测器件的环境温度，所述温度控制区用于依据所述环境温度控制所述冷却板的温度，以维持所述待检测器件的环境温度不变。

5.如权利要求1所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台还包括负载输出区，所述负载输出区分别与所述测试工作区、所述测试数据处理区电连接。

6.如权利要求5所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述负载输出区包括辅助开关，所述辅助开关与所述测试数据处理区电连接，所述测试数据处理区用于控制所述的辅助开关的关断，以实现控制所述待检测器件间断的导通。

7.如权利要求6所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台还包括的配电箱，所述负载输出区还包括直流电流源，所述直流电流源与所述配电箱电连接，所述辅助开关处于闭合状态时，所述负载输出区为所述待检测器件提供电流。

8.如权利要求1所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台还包括观察区，所述观察区与所述的测试数据处理区电连接，所述测试数据处理区还用于将数据传输至所述观察区进行显示。

9.如权利要求1所述的器件寿命测试平台，其特征在于，所述测试数据采集区包括数据采集电路，所述测试工作区包括的电流输出端与电压输出端，所述数据采集电路与分别所述电流输出端、所述电压输出端电连接，以使所述测试数据采集区采集所述待检测器件的电流与电压。

10.一种器件寿命测试系统，其特征在于，所述器件寿命测试系统包括待检测器件与如权利要求1至9任意一项所述的器件寿命测试平台，所述待检测器件安装于所述器件寿命测试平台的测试工作区。