[发明专利]一种投影亮度确定方法、装置、设备及系统

权利要求书

1.一种投影亮度确定方法，其特征在于，包括：

获取多张光栅图像，所述光栅图像为：投影仪依次按照所设定的各亮度参数投射的结构光对应的图像；

确定所述多张光栅图像的质量参数；其中，所述质量参数为表示光栅图像成像质量的参数；

将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数；

所述确定所述多张光栅图像的质量参数，包括：

针对每张光栅图像，根据该光栅图像中的条纹宽度，确定该光栅图像的质量参数；或，

针对每组光栅图像，对该组光栅图像进行解码，得到解码数据；统计所述解码数据中符合分布规律的像素点比例，作为该组光栅图像的质量参数；其中，每种结构光的编码算法分别对应一种分布规律；所述获取多张光栅图像，包括：获取多组光栅图像；每组中各张光栅图像对应的结构光的亮度参数及编码算法相同，每组中各张光栅图像对应的结构光的编码参数按照预设规则发生变化。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数，包括：

基于所述多张光栅图像的质量参数，确定每张光栅图像对应的质量参数变化斜率；其中，一张光栅图像对应的质量参数变化斜率为：该张光栅图像与另一张光栅图像的质量参数差值与亮度参数差值的比值；

在所确定的质量参数变化斜率中，选择满足预设斜率条件的目标斜率；

确定所述目标斜率对应的光栅图像，并将确定出的光栅图像所对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所确定的质量参数变化斜率中，选择满足预设斜率条件的目标斜率，包括：

在所确定的质量参数变化斜率中，选择绝对值最小的质量参数变化斜率，作为目标斜率；

或者，在所确定的质量参数变化斜率中，选择预设范围内的质量参数变化斜率，作为目标斜率。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，投影仪按照所设定的每个亮度参数投射的结构光分别对应多组光栅图像；所述将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数，包括：

针对所设定的每个亮度参数，确定该亮度参数对应的每组光栅图像的质量参数；对所确定的多个质量参数进行加权处理，得到该亮度参数对应的加权质量参数；

将最优的加权质量参数对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多张光栅图像，包括：

通过调整投影仪的电流或者镜头光圈，控制投影仪按照所设定的各亮度参数投射结构光；并控制相机采集所述结构光对应的光栅图像。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多张光栅图像，包括：

根据待测量物体的反射率和/或投影仪的硬件性能参数，设定初始亮度参数和边界亮度参数；

在初始亮度参数和边界亮度参数之间，设定投影仪的所述各亮度参数。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取多张光栅图像，包括：

在所设定的各亮度参数中，选择当前待投射亮度参数；

控制投影仪按照所述当前待投射亮度参数投射结构光；

获取相机针对所述结构光采集的光栅图像；

所述方法还包括：

若在所确定的质量参数变化斜率中，未选择出预设范围内的质量参数变化斜率，则返回所述在所设定的各亮度参数中，选择当前待投射亮度参数的步骤。