[发明专利]一种投影亮度确定方法、装置、设备及系统

说明书

本发明实施例提供了一种投影亮度确定方法、装置、设备及系统，方法包括：投影仪依次按照所设定的各亮度参数投射结构光，获取所投射结构光对应的多张光栅图像；确定该多张光栅图像中的质量参数；将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数；可见，本方案中，设备自动获取光栅图像，自动根据光栅图像确定出投影仪的最优亮度参数，也就是说，利用本方案可以不依据人工经验，自动确定出投影仪的最优亮度参数。

技术领域

本发明涉及三维测量技术领域，特别是涉及一种投影亮度确定方法、装置、设备及系统。

背景技术

利用结构光进行三维测量的方案一般包括：投影仪投射结构光，结构光照射到待测量物体上形成投影光栅；相机对该投影光栅进行采集，得到光栅图像；计算机根据该光栅图像，计算待测量物体的测量数据。

不同材质表面的反射率不同，如果待测量物体表面的反射率较大，则对应的投影仪的投影亮度应该小一些，如果待测量物体表面的反射率较小，则对应的投影仪的投影亮度应该大一些。现有方案中，大多是根据人工经验确定投影仪的投影亮度。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种投影亮度确定方法、装置、设备及系统，以实现自动确定投影仪的投影亮度。

为了达到上述目的，本发明实施例提供了一种投影亮度确定方法，包括：

获取多张光栅图像，所述光栅图像为：投影仪依次按照所设定的各亮度参数投射的结构光对应的图像；

确定所述多张光栅图像的质量参数；其中，所述质量参数为表示光栅图像成像质量的参数；

将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数。

可选的，所述获取多张光栅图像，包括：

获取多组光栅图像；其中，每组中各张光栅图像对应的结构光的亮度参数及编码算法相同，每组中各张光栅图像对应的结构光的编码参数按照预设规则发生变化；

所述确定所述多张光栅图像中的质量参数，包括：

针对每组光栅图像，对该组光栅图像进行解码，得到解码数据；基于所述解码数据，确定该组光栅图像的质量参数。

可选的，所述基于所述解码数据，确定该组光栅图像的质量参数，包括：

统计所述解码数据中符合分布规律的像素点比例，作为该组光栅图像的质量参数；其中，每种结构光的编码算法分别对应一种分布规律。

可选的，所述确定所述多张光栅图像中的质量参数，包括：针对每张光栅图像，根据该光栅图像中的条纹宽度，确定该光栅图像的质量参数。

可选的，所述将质量参数最优的光栅图像对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数，包括：

基于所述多张光栅图像的质量参数，确定每张光栅图像对应的质量参数变化斜率；其中，一张光栅图像对应的质量参数变化斜率为：该张光栅图像与另一张光栅图像的质量参数差值与亮度参数差值的比值；

在所确定的质量参数变化斜率中，选择满足预设斜率条件的目标斜率；

确定所述目标斜率对应的光栅图像，并将确定出的光栅图像所对应的亮度参数确定为投影仪的最优亮度参数。

可选的，所述在所确定的质量参数变化斜率中，选择满足预设斜率条件的目标斜率，包括：

在所确定的质量参数变化斜率中，选择绝对值最小的质量参数变化斜率，作为目标斜率；

或者，在所确定的质量参数变化斜率中，选择预设范围内的质量参数变化斜率，作为目标斜率。