[发明专利]一种阵列基板、显示面板及显示装置

权利要求书

1.一种阵列基板，其特征在于，包括衬底基板，所述衬底基板形成有显示区以及位于所述显示区之外的测试区；

所述显示区设置有多条栅线、多条数据线以及阵列分布的多个像素单元，每个所述像素单元内设置有薄膜晶体管和像素电极，所述薄膜晶体管的栅极与其所在像素单元对应的栅线电连接，所述薄膜晶体管的源极与其所在像素单元对应的数据线电连接，所述薄膜晶体管的漏极与其所在像素单元内的像素电极电连接；多个所述像素单元中包括至少一个待测试像素单元，所述显示区还设置有用于测试待测试像素单元中的薄膜晶体管特性的测试线，所述测试线与所述待测试像素单元中的像素电极电连接；

所述测试区设置有第一测试电极、第二测试电极以及第三测试电极，所述第一测试电极与所述测试线通过引线电连接，所述第二测试电极与所述待测试像素单元对应的栅线通过引线电连接，所述第三测试电极与所述待测试像素单元对应的数据线通过引线电连接；其中，

所述测试线的图形包括与所述待测试像素单元中的像素电极对应的过孔焊盘，所述过孔焊盘通过过孔与所述待测试像素单元中的像素电极电连接；

在显示区内需要测试的待测试像素单元为多个。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线为至少一条，且每条所述测试线平行于所述栅线设置。

3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，每条所述测试线与预设的一行像素单元中的像素电极电连接，所述第一测试电极与所述测试线电连接，所述第二测试电极与所述预设的一行像素单元对应的栅线电连接，所述第三测试电极与至少一条数据线电连接。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线与所述栅线同层设置。

5.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线单独一层设置，且所述测试线在所述衬底基板上的正投影位于一条所述栅线在所述衬底基板上的正投影之内。

6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线为至少一条，且每条所述测试线平行于所述数据线设置。

7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，每条所述测试线与预设的一列像素单元中的像素电极电连接，所述第一测试电极与所述测试线电连接，所述第二测试电极与至少一条栅线电连接，所述第三测试电极与所述预设一列像素单元对应的数据线电连接。

8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线与所述数据线同层设置。

9.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线单独一层设置，且所述测试线在所述衬底基板上的正投影位于一条所述数据线在所述衬底基板上的正投影之内。

10.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线的材料为金属。

11.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-10任一项所述的阵列基板。

12.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求11所述的显示面板。