[发明专利]一种阵列基板、显示面板及显示装置

说明书

本发明涉及显示设备技术领域，公开了一种阵列基板、显示面板及显示装置，该阵列基板包括衬底基板，衬底基板包括显示区及测试区；显示区设置有多条栅线、多条数据线及阵列分布的多个像素单元，每个像素单元内设置有薄膜晶体管和像素电极；显示区还设置有用于测试待测试像素单元中的薄膜晶体管特性的测试线，测试线与待测试像素单元中的像素电极电连接；测试区设置有第一测试电极、第二测试电极及第三测试电极，第一测试电极与测试线电连接，第二测试电极与待测试像素单元对应的栅线电连接，第三测试电极与待测试像素单元对应的数据线电连接。该阵列基板既能够使薄膜晶体管特性测试设备自动监控显示区内的薄膜晶体管的特性，又不会影响产品良率。

技术领域

本发明涉及显示设备技术领域，特别涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。

背景技术

目前的薄膜晶体管液晶显示器，是由阵列基板和彩膜基板通过成盒工艺制作而成，其中阵列基板上的薄膜晶体管起到开关的作用，薄膜晶体管的开关特性好坏对于显示器的正常显示至关重要，因此需要对薄膜晶体管开关特性进行监控。目前行业内对于薄膜晶体管开关特性监控有两种方法：

(1)在显示区外面设定测试区，制作测试薄膜晶体管并制作测试电极，在阵列基板产线通过薄膜晶体管特性测试设备自动测试薄膜晶体管特性。此种方法只能测试测试区的薄膜晶体管特性，不能准确监控显示区的薄膜晶体管特性情况；

(2)在阵列基板制程完成后，取样品在实验室手动测试显示区薄膜晶体管特性情况。此种方法虽然可以测试显示区薄膜晶体管特性，但是不能在产线自动测试，不具量产性，并且取过样品的阵列基板只能报废，影响良率，增加生产成本。

发明内容

本发明提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置，上述阵列基板既能够在生产线上使薄膜晶体管特性测试设备自动监控显示区内的薄膜晶体管的特性，避免发生品质风险，又不会影响产品良率。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种阵列基板，包括衬底基板，所述衬底基板形成有显示区以及位于所述显示区之外的测试区；

所述显示区设置有多条栅线、多条数据线以及阵列分布的多个像素单元，每个所述像素单元内设置有薄膜晶体管和像素电极，所述薄膜晶体管的栅极与其所在像素单元对应的栅线电连接，所述薄膜晶体管的源极与其所在像素单元对应的数据线电连接，所述薄膜晶体管的漏极与其所在像素单元内的像素电极电连接；所述显示区还设置有用于测试待测试像素单元中的薄膜晶体管特性的测试线，所述测试线与所述待测试像素单元中的像素电极电连接；

所述测试区设置有第一测试电极、第二测试电极以及第三测试电极，所述第一测试电极与所述测试线通过引线电连接，所述第二测试电极与所述待测试像素单元对应的栅线通过引线电连接，所述第三测试电极与所述待测试像素单元对应的数据线通过引线电连接。

上述阵列基板中，衬底基板包括显示区和测试区，显示区上设置有用于测试待测试像素单元中的薄膜晶体管特性的测试线，测试线与待测试像素单元中的像素电极电连接，测试区设置有第一测试电极、第二测试电极以及第三测试电极，第一测试电极与测试线通过引线电连接，第二测试电极与待测试像素单元对应的栅线通过引线电连接，所述第三测试电极与待测试像素单元对应的数据线通过引线电连接。上述阵列基板在进行薄膜晶体管特性测试时，薄膜晶体管特性测试设备的探针与第一测试电极、第二测试电极以及第三测试电极相接触，能够测试位于显示区内的待测试像素单元内的薄膜晶体管的特性，即该阵列基板结构能够在生产线上使得薄膜晶体管特性测试设备自动监控阵列基板显示区内的薄膜晶体管的特性，使得能够针对显示区内薄膜晶体管的特性及时预警，避免发生品质风险，并且不会造成阵列基板报废，影响良率。

可选地，所述测试线为至少一条，且每条所述测试线平行于所述栅线设置。