[发明专利]自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法

权利要求书

1.一种自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法，其特征是按如下步骤进行：

步骤1、定义变量为w，并初始化w＝1；

步骤2、从EDA设计软件中获取第w个仿真电路，得到所述第w个仿真电路最大额定功率约束P_power和最大结构功率约束P_stu；从所述最大额定功率约束P_power和最大结构功率约束P_stu选取较大值作为测试功率P；再将所述第w个仿真电路导入电路分析软件中，得到所述第w个仿真电路在测试过程的第i个周期内消耗的能量E_i,w；i＝1,2,…,N，N表示周期总个数；

步骤3、利用式(1)得到第w个仿真电路在第i个周期内的测试时间T_i,w，从而得到第w个仿真电路在N个周期内的测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}；

步骤4、将所述N个周期内的测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}进行归一化处理后降序排序，得到预处理后的测试时间集合{T′_i,w|i＝1,2,…,N}；T′_i,w表示预处理后的第w个仿真电路在第i个周期内的测试时间；

步骤5、设置第w个仿真电路的最优测试周期的总个数为M_w，且M_w≤N；第w个仿真电路的任意第j个最优测试周期记为K_j,w，且K_j,w∈{T_i,w|i＝1,2,…,N}，K_j,w≤自动测试设备ATE的最小工作周期；j＝1,2,…,M_w；M_w≤自动测试设备ATE的所能设置的工作周期最大个数；

步骤6、若前w-1个仿真电路中能选出与第w个仿真电路的最优测试周期总个数M_w相同的Y个仿真电路，则将第w个仿真电路预处理后的测试时间集合{T′_i,w|i＝1,2,…,N}分别与Y个仿真电路预处理后的测试时间集合进行方差计算，得到的方差结果除以周期总个数N后得到单位方差，得到Y个单位方差，并执行步骤7；若Y＝0，则表示第w个仿真电路为新的一种类型电路，并执行步骤13-步骤16；

步骤7、判断是否存在第s个单位方差小于等于单位方差阈值A，若存在，则表示第w个仿真电路与第s个单位方差所对应的仿真电路属于同一种类型的电路，并选取最小单位方差所对应的仿真电路作为匹配电路best，并执行步骤8-步骤12；否则，表示第w个仿真电路为新的一种类型电路，并执行步骤13-步骤16；其中，s＝1,2,…,Y；

步骤8、获取匹配电路best的测试周期集合{K_r,best|r＝1,2,…,M_best}，并从第w个仿真电路的预处理后的测试时间集合{T′_i,w|i＝1,2,…,N}中找到第r个周期所对应的测试时间T′_r,w；

步骤9、利用局部搜索算法对所找到的第r个周期所对应的测试时间T′_r,w的上下区间进行计算，得到第r个最优测试周期K_r,w；从而得到第w个仿真电路的M_best个最优测试周期集合{K_r,w|r＝1,2,…,M_best}；

步骤10、利用式(2)得到第w个仿真电路的总测试时间Time_w：

式(2)中，n_r,w表示在测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}中满足第w个仿真电路的第r个最优测试周期K_r,w的测试周期个数；

步骤11、从所述第w个仿真电路的N个周期内的测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}中选取最大值并与N相乘得到同步测试时间TT_w，再利用式(3)得到时间减少率R：

步骤12、判断R是否小于期望时间减少率阈值B；若小于，则保持单位方差阈值A不变；并得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}；否则，调整所述单位方差阈值A后执行步骤13-步骤16；

步骤13、定义正整数C，C≤N；

步骤14、判断M_w＞C是否成立，若成立，则执行步骤15；否则，执行步骤16；

步骤15、将测试周期的总数M_w和测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}作Kth-Root算法的输入，从而得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}；

步骤16、将测试周期的总数M_w和测试时间集合{T_i,w|i＝1,2,…,N}作为贪心算法的输入，从而得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}。