[发明专利]复合薄膜晶体管和制造方法、阵列基板、显示面板和装置有效

专利信息
申请号: 201910308964.5 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN109950257B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 张淼;唐川江;杨通;邵贤杰 申请(专利权)人: 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 张筱宁
地址: 230012 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 复合 薄膜晶体管 制造 方法 阵列 显示 面板 装置
【权利要求书】:

1.一种复合薄膜晶体管,其特征在于,包括:两个P型薄膜晶体管、一个第一N型薄膜晶体管和一个第二N型薄膜晶体管;

P型薄膜晶体管的有源层为P型掺杂低温多晶硅,第二N型薄膜晶体管的有源层为金属氧化物;

两个P型薄膜晶体管的栅极和一个第一N型薄膜晶体管的栅极连接在一起,并与栅极信号输入端连接;

其中一P型薄膜晶体管的漏极为复合薄膜晶体管的漏极,源极与第二N型薄膜晶体管的漏极连接,第二N型薄膜晶体管的源极为复合薄膜晶体管的源极;

另一P型薄膜晶体管的源极与第一信号端连接,漏极与第一N型薄膜晶体管的源极连接,第一N型薄膜晶体管的漏极与第二信号端连接;

第二N型薄膜晶体管的栅极与第一N型薄膜晶体管的源极连接。

2.如权利要求1所述的复合薄膜晶体管,其特征在于,第一信号端用于输入高电平信号,第二信号端用于输入低电平信号。

3.如权利要求1所述的复合薄膜晶体管,其特征在于,所述第一N型薄膜晶体管的有源层为N型掺杂低温多晶硅,或为金属氧化物。

4.如权利要求1或3所述的复合薄膜晶体管,其特征在于,所述金属氧化物为铟镓锌氧化物或者氧化锌。

5.如权利要求3所述的复合薄膜晶体管,其特征在于,当所述第一N型薄膜晶体管的有源层为N型掺杂低温多晶硅时,P型薄膜晶体管的有源层和所述第一N型薄膜晶体管的有源层位于同一层。

6.一种阵列基板,其特征在于,包括如权利要求1-5任一项所述的复合薄膜晶体管。

7.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求6所述的阵列基板。

8.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求7所述的显示面板。

9.一种如权利要求1-5任一项所述的复合薄膜晶体管的制造方法,包括有源层、栅极、源极和漏极的制作,其特征在于,有源层的制作包括:

提供一衬底基板,通过构图工艺在衬底基板上制作低温多晶硅有源层;

对所述低温多晶硅有源层进行掺杂;

在进行掺杂后,在所述衬底基板上通过构图工艺制作金属氧化物有源层。

10.如权利要求9所述的制造方法,其特征在于,对所述低温多晶硅有源层进行掺杂,包括:

对所述低温多晶硅有源层进行P型掺杂,形成P型掺杂低温多晶硅有源层;

或,对部分所述低温多晶硅有源层进行P型掺杂,形成P型掺杂低温多晶硅有源层,对其余部分有源层进行N型掺杂,形成N型掺杂低温多晶硅有源层。

11.如权利要求9所述的制造方法,其特征在于,通过构图工艺在衬底基板上制作低温多晶硅有源层,包括:

在衬底基板上依次制作缓冲层和非晶硅层,并对非晶硅层进行晶化处理,形成低温多晶硅层;

通过构图工艺对低温多晶硅层进行图案化,形成低温多晶硅有源层。

12.如权利要求9所述的制造方法,其特征在于,具体包括:

在衬底基板上制作有源层,并在所述有源层上通过构图工艺依次制作栅极绝缘层和栅极;

在制作有所述栅极的衬底基板上,通过构图工艺,依次制作中间绝缘层、源极和漏极。

13.如权利要求12所述的制造方法,其特征在于,制作所述源极和所述漏极后,还包括:

在制作有所述源极和所述漏极的衬底基板上沉积绝缘层,并通过构图工艺形成保护层。

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