[发明专利]基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法

权利要求书

1.一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，所述方法包括：

获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；

根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；

读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；

强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；

读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。

2.根据权利要求1所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，所述强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数的步骤还包括：

通过DM软件进行一次随机LBA写操作；

强制所述固态硬盘进入低功耗状态；

读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；

重复通过DM软件进行一次随机LBA写操作，强制所述固态硬盘进入低功耗状态，读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态的步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。

3.根据权利要求2所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，在所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤之后还包括：

对所述固态硬盘进行写半盘处理。

4.根据权利要求1-3任一项所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤包括：

根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；

将所述固态硬盘静置一定时间；

通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。

5.一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；

安装模块，所述安装模块用于根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；

读取模块，所述读取模块用于读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；

低功耗模块，所述低功耗模块用于强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；

判断模块，所述判断模块用于读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。

6.根据权利要求5所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述低功耗模块还用于：

通过DM软件进行一次随机LBA写操作；

强制所述固态硬盘进入低功耗状态；

读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；

重复通过DM软件进行一次随机LBA写操作，强制所述固态硬盘进入低功耗状态，读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态的步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。

7.根据权利要求6所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：

写半盘处理模块，所述写半盘处理模块用于对所述固态硬盘进行写半盘处理。

8.根据权利要求5-7任一项所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述安装模块还用于：

根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；

将所述固态硬盘静置一定时间；

通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。