[发明专利]基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法

说明书

本申请涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

目前，随着固态硬盘技术的发展，为了让使固态硬盘整体工作功耗降低，固态硬盘需要频繁的进出低功耗状态，以保证固态硬盘的功耗足够低。

在传统技术中，根据固态硬盘工作原理，由于进入低功耗状态时，硬盘内部数据的写入动作，导致存储颗粒的消耗。然而，在现有技术中，并无此测试项对由于频繁进出低功耗造成的存储颗粒损耗进行测试，因此无法预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，所述方法包括：

获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；

根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；

读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；

强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；

读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。

在其中一个实施例中，所述强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数的步骤还包括：

通过DM软件进行一次随机LBA写操作；

强制所述固态硬盘进入低功耗状态；

读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；

重复上述步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。

在其中一个实施例中，在所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤之后还包括：

对所述固态硬盘进行写半盘处理。

在其中一个实施例中，所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤包括：

根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；

将所述固态硬盘静置一定时间；

通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。

一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，所述基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；

安装模块，所述安装模块用于根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；