[发明专利]一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法

权利要求书

1.一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，其特征在于，包括光纤微弯模型(1)、位移平台(2)、待测单模光纤(3)、光纤跳线(4)、位移平台控制器(5)、光源(6)和光功率计(7)；其中，

测试时，光纤微弯模型(1)设置在位移平台(2)上，待测单模光纤(3)穿过光纤微弯模型(1)，位移平台控制器(5)用于调节位移平台(2)的位移大小，使得待测单模光纤(3)夹在位移平台(2)的固定端和活动端之间；待测单模光纤(3)的两端通过光纤跳线(4)分别与光源(6)和光功率计(7)相连接，利用位移平台(2)的移动，使待测单模光纤(3)产生不同的微弯形变，采用光功率计(7)测量得到不同微弯条件下的光功率，并存储在电脑上。

2.根据权利要求1所述的一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，其特征在于，光纤微弯模型(1)成对设置，每对光纤微弯模型(1)为3D打印成型，上下相吻合的两块，包含定位柱相配合的定位孔，且光纤微弯模型(1)的齿状间距大小、个数、长度以及曲率半径各不相同。

3.根据权利要求1所述的一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，其特征在于，位移平台(2)的最小位移为1μm。

4.一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的方法，其特征在于，该方法基于权利要求1至3中任一项所述的一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，包括：

首先将待测单模光纤(3)的两端分别与一根光纤跳线的一端熔接，将光纤微弯模型(1)固定在位移平台(2)的中间，将待测单模光纤(3)穿过光纤微弯模型(1)，将一根光纤跳线(4)的另一端与光源(6)相连，将另一根光纤跳线(4)的另一端与光功率计(7)相连，打开光源(6)，记录下光功率计(7)的初始值；电脑通过位移平台控制器(5)控制位移平台(2)的位移大小，并记录此时光功率计(7)值的大小；两光功率值相比取对数后的十倍即为待测单模光纤(3)在不同微弯条件下的光纤衰减。

5.根据权利要求4所述的一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的方法，其特征在于，微弯模型(1)采用齿状的微弯损耗模型。

6.根据权利要求5所述的一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的方法，其特征在于，待测单模光纤(3)放置在齿状的微弯损耗模型之间以产生微弯，齿状的微弯损耗模型使待测单模光纤(3)弯曲以产生用于分析衰减损耗的微弯；光传输路径将类似于正弦波，但不完全是正弦波；该波位于正弦波和三角波之间的某处，通过对三角波进行傅立叶变换并考虑三次谐波，确定波动方程，进而可计算得到微弯损耗；

三角波方程如式(1)所示：

式中A是三角波的振幅，∧是周期；而三角波的傅里叶级数为公式(2)所示：

求解三角波的傅立叶级数，包括三次谐波，方程如公式(3)所示：

光纤微弯损耗与位移的关系如公式(4)所示：

式中γ为损耗系数。