[发明专利]一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法

说明书

本发明公开了一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法，该装置包括光纤微弯模型和光功率计等；测试时，微弯模型设置在位移平台上，待测单模光纤穿过光纤微弯模型，位移平台控制器用于调节位移平台的位移大小，使得单模光纤夹在位移平台的固定端和活动端之间；单模光纤的两端通过光纤跳线分别与光源和光功率计相连接，利用位移平台的移动，得到不同的光功率，并存储在电脑上。本发明通过3D打印技术对多种微弯模型进行精确制作，解决了现有的微弯测试的方法难以实现精确度、高效性、重复性问题；通过电脑控制位移平台与微弯模型的配合移动，对单模光纤进行不同精确度的挤压，达到不同微弯的效果，解决了现有技术缺少实验和理论依据的技术问题。

技术领域

本发明属于光纤检测技术领域，具体涉及一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法。

背景技术

基于光纤复合低压电缆(OPLC)的电力光纤到户工程，利用电力通道资源，实现电网和通信网基础设施的深度融合，是实现能源互联网信息通信的有效方式。而OPLC缆中光纤长期工作在热场和应力场叠加的条件下，光纤的衰减劣化直接影响光纤传输能力和OPLC使用寿命。但目前对于这种叠加环境下OPLC缆中光纤衰减变化特性缺乏研究，需要测试OPLC缆中光纤因温度升高引起的宏弯、微弯的损耗。

虽然许多研究机构对光纤微弯损耗做了大量的研究，提出了一些测试方法，但是所有测试的方法对微弯测试类型比较单一、缺乏理论依据支持、结果不可与仿真软件对比。例如现有的可膨胀圆筒法：在一个圆筒上覆一层砂纸，把光纤绕在上面，然后光纤加热膨胀，看其衰减特性曲线。与其类似的固定直径圆筒法，这两种方法不仅成本比较高、可重复性比较差，而且缺乏理论支撑，只是单纯的测试微弯损耗。再如金属网格法、金属网格标记线法，虽然成本比较低，但是他们的测试微弯类型单一，不适合于分析光纤微弯损耗的原因。

因此，现有的方法不能简单且具有理论依据支撑测试光纤微弯损耗，现有的装置缺乏精确的、高效的、可重复的测试模型，这些问题都是现在技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法，该装置测试简单、易操作。该方法简单、重复性高、测试微弯类型多、测量结果与仿真结果高度吻合。

本发明采用如下技术方案来实现的：

一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，包括光纤微弯模型、位移平台、待测单模光纤、光纤跳线、位移平台控制器、光源和光功率计；其中，

测试时，光纤微弯模型设置在位移平台上，待测单模光纤穿过微弯模型，位移平台控制器用于调节位移平台的位移大小，使得单模光纤夹在位移平台的固定端和活动端之间；单模光纤的两端通过光纤跳线分别与光源和光功率计相连接，利用位移平台的移动，得到不同的光功率，并存储在电脑上。

本发明进一步的改进在于，光纤微弯模型成对设置，每对微弯模型为3D打印成型，上下相吻合的两块，包含定位柱相配合的定位孔，且微弯模型的齿状间距大小、个数、长度以及曲率半径各不相同。

本发明进一步的改进在于，位移平台的最小位移为1μm。

一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的方法，该方法基于上述一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，包括：

首先将待测单模光纤的两端分别与一个光纤跳线的一端熔接，将微弯模型固定在位移平台的中间，将单模光纤穿过微弯模型，将一个光纤跳线的另一端与光源相连，将另一个光纤跳线的另一端与光功率计相连，打开光源，记录下光功率计的初始值；电脑通过位移平台控制器控制位移平台的位移大小，并记录此时光功率计值的大小；两光功率值相比取对数后的十倍即为待测单模光纤在不同微弯条件下的光纤衰减。

本发明进一步的改进在于，光纤微弯模型采用齿状的微弯损耗模型。