[发明专利]数据存储异常检测方法与装置

权利要求书

1.一种数据存储异常检测方法，其特征在于，应用于主控芯片，所述方法包括：

在根据获得的第一反馈数据确定延时参数均不可用时，将预先获得的第二测试数据写入存储器，其中，所述延时参数包括延迟锁相环参数，所述延时参数作用于双向数据控制引脚发出的数据读写信号，用于确定数据读写信号的相位移动步长；

连续读所述第二测试数据至少两次，得到至少两个第二反馈数据；

当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据所述任意两次得到的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果；

所述当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据所述任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果的步骤包括：

当所述任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置一致时，则所述存储器中包含的存储颗粒存在异常；

当所述任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置不一致时，则所述主控芯片与所述存储器之间的通讯链路存在异常。

2.根据权利要求1所述的数据存储异常检测方法，其特征在于，在所述在根据获得的第一反馈数据确定延时参数存在异常时，将预先获得的第二测试数据写入存储器的步骤之前，所述方法还包括：

按照设定的顺序轮流从预设的延时参数范围中选择一个延时参数配置；

将预先获得的第一测试数据写入所述存储器并读出；

当读出的第一反馈数据有数位发生翻转时，确定所述延时参数不可用；

遍历完所述预设的延时参数范围后，每个所述第一反馈数据均有数位发生反转时，确定所述延时参数均不可用。

3.根据权利要求2所述的数据存储异常检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

当读出的第一反馈数据没有数位发生翻转时，确定所述延时参数可用；

遍历完所述预设的延时参数范围后，选择所有被确定为可用的延时参数中的中间值参数配置。

4.一种数据存储异常检测装置，其特征在于，应用于主控芯片，所述装置包括：

数据写入单元，用于在根据获得的第一反馈数据确定延时参数均不可用时，将预先获得的第二测试数据写入存储器，其中，所述延时参数包括延迟锁相环参数，所述延时参数作用于双向数据控制引脚发出的数据读写信号，用于确定数据读写信号的相位移动步长；

数据读出单元，用于连续读所述第二测试数据至少两次，得到至少两个第二反馈数据；

结果生成单元，用于当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果；

所述结果生成单元具体用于当两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置一致时，则所述存储器中包含的存储颗粒存在异常；

所述结果生成单元具体用于当两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置不一致时，则所述主控芯片与所述存储器之间的通讯链路存在异常。

5.一种固态硬盘，其特征在于，所述固态硬盘包括有主控芯片与存储器，所述存储器中包括一个或多个由所述主控芯片执行的机器可执行指令，所述主控芯片可执行所述机器可执行指令以实现权利要求1-3任一所述的方法。

6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机指令，其中，所述计算机指令在被读取并运行时执行如权利要求1-3中任一权项所述的数据存储异常检测方法。