[发明专利]数据存储异常检测方法与装置

说明书

本发明提供了一种数据存储异常检测方法与装置，涉及硬盘检测领域。当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据所述任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果，容易精确地检测出不良品，在后期无需耗费很多的人力和物力进行异常测试、定位和维修，节省了大量的经济成本，并且测试结果可靠性高。

技术领域

本发明涉及硬盘检测领域，具体而言，涉及一种数据存储异常检测方法与装置。

背景技术

固态硬盘(Solid State Disk)是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。通常情况下，固态硬盘制作完成后，会进行高温RDT以及BIT老化等测试，以检测固态硬盘的盘片的焊接导致信号质量异常的情况。

在传统技术中，通常通过制盘后的X射线检查固态硬盘是否有虚焊，对于固态硬盘的比较隐蔽的位置发生异常时，这种粗糙的筛选方式是无法检测出不良品，以致在后期还会耗费很多的人力和物力进行异常测试、定位和维修，需要耗费大量的经济成本，并且测试结果可靠性低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种数据存储异常检测方法与装置。

第一方面，本发明实施例提供了一种数据存储异常检测方法，应用于主控芯片，方法包括：

在根据获得的第一反馈数据确定延时参数均不可用时，将预先获得的第二测试数据写入存储器；

连续读第二测试数据至少两次，得到至少两个第二反馈数据；

当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果。

第二方面，本发明实施例还提供了一种数据存储异常检测装置，应用于主控芯片，装置包括：

数据写入单元，用于在根据获得的第一反馈数据确定延时参数均不可用时，将预先获得的第二测试数据写入存储器；

数据读出单元，用于连续读第二测试数据至少两次，得到至少两个第二反馈数据；

结果生成单元，用于当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果。

第三方面，本发明实施例提供了一种固态硬盘，所述固态硬盘包括有主控芯片与存储器，所述存储器中包括一个或多个由所述主控芯片执行的机器可执行指令，所述主控芯片可执行所述机器可执行指令以实现上述的方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机指令，其中，所述计算机指令在被读取并运行时执行如上述的数据存储异常检测方法。

与现有技术相比，本发明提供的数据存储异常检测方法与装置，当任意两次得到的第二反馈数据均有数位发生翻转时，依据所述任意两次读出的第二反馈数据发生翻转的数位的位置生成数据存储异常检测结果，容易精确地检测出不良品，在后期无需耗费很多的人力和物力进行异常测试、定位和维修，节省了大量的经济成本，并且测试结果可靠性高。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明