[发明专利]平均辐射温度计算方法及系统、可读存储介质在审
申请号: | 201910327353.5 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN110162837A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 薛雪 | 申请(专利权)人: | 北京汉能光伏技术有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 覃婧婵 |
地址: | 101499 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测区域 光伏组件 透光 温度计算 背光面 辐照度 辐射 可读存储介质 计算复杂度 室内环境 物理建模 耗时 | ||
1.一种平均辐射温度计算方法,适用于安装有透光光伏组件的室内环境,其特征在于,包括:
获取所述透光光伏组件的背光面温度;
获取检测区域的辐照度;
根据所述背光面温度和所述辐照度,计算所述透光光伏组件的等效表面温度;
获取所述检测区域的空间温度和表面积,根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度,计算所述检测区域的平均辐射温度。
2.根据权利要求1所述的平均辐射温度计算方法,其特征在于,所述获取所述透光光伏组件的背光面温度包括:
通过红外线测温枪获取所述透光光伏组件的背光面温度。
3.根据权利要求1所述的平均辐射温度计算方法,其特征在于,所述获取所述透光光伏组件的背光面温度包括:
读取设置于所述透光光伏组件背光面的第一温度传感器,得到所述透光光伏组件的背光面温度。
4.根据权利要求1所述的平均辐射温度计算方法,其特征在于,获取所述检测区域的表面积的步骤包括:
采集所述检测区域的图像信息;
对所述图像信息进行包括灰度转换、特征提取的处理,得到所述检测区域的表面积。
5.根据权利要求1所述的平均辐射温度计算方法,其特征在于,所述获取所述检测区域的空间温度和表面积包括:
读取所述检测区域内的第二温度传感器,得到所述检测区域的空间温度。
6.根据权利要求1所述的平均辐射温度计算方法,其特征在于,所述检测区域为长方体空间,所述检测区域的表面积包括第一表面积和第二表面积,其中,所述第一表面积与所述透光光伏组件的背光面的表面积相等;
所述根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度,计算所述检测区域的平均辐射温度包括:
将所述等效表面温度和所述第一表面积送入第一乘法器,得到第一乘数;
将所述检测区域的空间温度和所述第二表面积送入第二乘法器,得到第二乘数;
将所述第一乘数和所述第二乘数送入加法器,得到第一加数;
将所述第一加数和所述检测区域的表面积送入除法器,得到所述平均辐射温度,其中,所述第一加数作为除数,所述检测区域的表面积作为被除数。
7.一种平均辐射温度计算系统,适用于安装有透光光伏组件的室内环境,其特征在于,包括:
温度获取单元,用于获取所述透光光伏组件的背光面温度和检测区域的空间温度;
辐照度获取单元,用于获取检测区域的辐照度;
表面积获取单元,用于获取所述检测区域的表面积;
处理单元,用于根据所述背光面温度和所述辐照度,计算所述透光光伏组件的等效表面温度,并根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度,计算所述检测区域的平均辐射温度。
8.根据权利要求7所述的平均辐射温度计算系统,其特征在于,所述温度获取单元包括第一温度获取模块;
所述第一温度模块包括红外线测温枪或若干第一温度传感器;
所述红外线测温枪,用于获取所述透光光伏组件背光面若干检测点的温度;
所述第一温度传感器,设置于所述透光光伏组件背光面若干检测点,用于获取所述检测点的温度。
9.一种平均辐射温度计算系统,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上且在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时,实现如权利要求1至6任意一项所述的平均辐射温度计算方法中的各个步骤。
10.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1至6任意一项所述的平均辐射温度计算方法中的各个步骤。
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