[发明专利]平均辐射温度计算方法及系统、可读存储介质

说明书

本发明公开了一种平均辐射温度计算方法，适用于安装有透光光伏组件的室内环境，包括：获取透光光伏组件的背光面温度，获取检测区域的辐照度，根据背光面温度和辐照度，计算所述透光光伏组件的等效表面温度，获取所述检测区域的空间温度和表面积，根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度，计算所述检测区域的平均辐射温度。本发明实施例在对检测区域进行平均辐射温度计算时，只需要获取透光光伏组件的背光面温度、检测区域的辐照度、检测区域的空间温度和表面积，就能够根据获取的数据进行平均辐射温度计算，不需要进行物理建模，计算复杂度低，且只需要根据获取的数据进行计算，耗时短，结果准确。

技术领域

本发明涉及光伏技术领域，尤其涉及一种平均辐射温度计算方法及系统、可读存储介质。

背景技术

在现有技术中，计算透光光伏组件的平均辐射温度，只能通过建模软件TRNSYS根据透光光伏组件的特性进行物理建模，如建立白箱模型，并模拟生成室内平均辐射温度。

白箱模型的建模复杂度极高，耗时较长，不适宜实际项目现场应用需求，而基于理想化边界条件建模，模拟结果极有可能不准确，不具备现实指导意义。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种平均辐射温度计算方法及系统、可读存储介质，能够解决现有技术在进行平均辐射温度计算时，存在计算复杂度高、耗时较长及结果不准确的问题。

本发明实施例提供了一种平均辐射温度计算方法，适用于安装有透光光伏组件的室内环境，包括：

获取所述透光光伏组件的背光面温度；

获取检测区域的辐照度；

根据所述背光面温度和所述辐照度，计算所述透光光伏组件的等效表面温度；

获取所述检测区域的空间温度和表面积，根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度，计算所述检测区域的平均辐射温度。

进一步地，所述获取所述透光光伏组件的背光面温度包括：

通过红外线测温枪获取所述透光光伏组件的背光面温度。

进一步地，所述获取所述透光光伏组件的背光面温度包括：

读取设置于所述透光光伏组件背光面的第一温度传感器，得到所述透光光伏组件的背光面温度。

进一步地，获取所述检测区域的表面积的步骤包括：

采集所述检测区域的图像信息；

对所述图像信息进行包括灰度转换、特征提取的处理，得到所述检测区域的表面积。

进一步地，所述获取所述检测区域的空间温度和表面积包括：

读取所述检测区域内的第二温度传感器，得到所述检测区域的空间温度。

进一步地，所述检测区域为长方体空间，所述检测区域的表面积包括第一表面积和第二表面积，其中，所述第一表面积与所述透光光伏组件的背光面的表面积相等；

所述根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度，计算所述检测区域的平均辐射温度包括：

将所述等效表面温度和所述第一表面积送入第一乘法器，得到第一乘数；

将所述检测区域的空间温度和所述第二表面积送入第二乘法器，得到第二乘数；

将所述第一乘数和所述第二乘数送入加法器，得到第一加数；

将所述第一加数和所述检测区域的表面积送入除法器，得到所述平均辐射温度，其中，所述第一加数作为除数，所述检测区域的表面积作为被除数。