[发明专利]单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201910341865.7 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110045204B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 张战刚;肖庆中;雷志锋;彭超;何玉娟;来萍;黄云;恩云飞 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普;曾旻辉
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 粒子 维持 电流 测试 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时,采集所述待测器件的电流,并将所述采集到的电流确认为效应电流;

以所述效应电流作为所述待测器件的输入电流的初始值,逐次减小所述输入电流,直至监测到处于当前离子束辐照中的所述待测器件退出单粒子闩锁效应时,将当前的输入电流确认为所述待测器件对应的退出电流;

获取处于下一种离子束辐照中的所述待测器件对应的退出电流;将各所述退出电流中的最小值确认为所述待测器件的单粒子闩锁维持电流;

其中,确认所述待测器件出现单粒子闩锁效应的步骤,包括:

采集处于所述当前离子束辐照中的所述待测器件的当前电流和当前输出信号;

若所述当前电流大于正常电流、且所述当前输出信号与正常输出信号不同,则确认所述待测器件出现单粒子闩锁效应;所述正常电流为所述待测器件处于正常工作状态下的电流;所述正常输出信号为所述待测器件处于正常工作状态下输出的信号;

其中,确认所述待测器件退出单粒子闩锁效应的步骤,包括:

在当前次减小所述待测器件的输入电流时,采集预设时长内的所述待测器件的持续电流和持续输出信号;

若所述持续电流包含所述正常电流、且所述持续输出信号包含所述正常输出信号,则所述待测器件退出单粒子闩锁效应,否则进入下一次减小所述待测器件的输入电流。

2.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,所述当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时,采集所述待测器件的电流,并将所述采集到的电流确认为效应电流的步骤之前还包括:

控制离子束发射设备向处于真空环境中的所述待测器件发射预设种类的离子束。

3.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,

在所述当前输出信号的强度小于所述正常输出信号的强度时,确认所述当前输出信号与所述正常输出信号不同;

在所述当前输出信号出现信号丢失时,确认所述当前输出信号与所述正常输出信号不同。

4.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,所述当前电流大于正常电流是指所述当前电流超过所述正常电流的1.5倍至2倍。

5.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,以所述效应电流作为所述待测器件的输入电流的初始值,逐次减小所述输入电流的步骤中:

以所述效应电流作为所述待测器件的输入电流的初始值,按预设间隔逐次减小所述输入电流的值。

6.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,所述采集到的电流包括内核电流和/或I/O引脚电流。

7.根据权利要求1所述的单粒子闩锁维持电流测试方法,其特征在于,还包括步骤:

当所述采集到的电流大于预设阈值时,将所述待测器件的输入电流的值减小至零。

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