[发明专利]单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统

说明书

本申请涉及一种单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，采集待测器件的电流，并将采集到的电流确认为效应电流；以效应电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流，直至监测到处于当前离子束辐照中的待测器件、退出单粒子闩锁效应时，将当前的输入电流确认为待测器件对应的退出电流；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的退出电流；将各退出电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁维持电流，从而，本申请能够获得待测器件在辐射环境下的单粒子闩锁维持电流，提高了测试单粒子闩锁维持电流的准确度，进而为改进器件抗闩锁设计提供数据支持。

技术领域

本申请涉及电子器件可靠性技术领域，特别是涉及一种单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统。

背景技术

空间飞行器在恶劣的空间辐射环境中运行时，环境中银河宇宙射线、太阳宇宙射线和地磁场俘获带中的高能重离子、质子等粒子都会在空间飞行器的电子系统中产生单粒子效应，从而严重威胁空间飞行器的正常运行。据美国国家地球物理数据中心统计，自1971年至1986年间，美国发射的39颗同步卫星中因各种原因造成的故障总数共1589次，其中因辐射造成的单粒子翻转(Single Event Upset，SEU)而引起的故障达621次，占故障总数的39％。中国空间科学技术研究院统计了我国6颗同步卫星中的故障原因，空间辐射环境引起的故障在总故障中的比例达到了40％。

空间辐射带来的单粒子效应日益成为制约空间飞行器应用的瓶颈问题，一旦出现单粒子效应将有可能永久损坏或烧毁空间飞行器的电子器件，例如单粒子效应中的单粒子闩锁会使电子器件在电源和地之间形成了低阻抗大电流通路导致电路无法正常工作乃至失效。因此，有必要研究单粒子闩锁对空间飞行器的影响，从而优化电子器件的设计。但是，在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统技术不能够准确地测试单粒子闩锁维持电流，无法为优化电子器件设计提供数据支持。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确测试单粒子闩锁维持电流的单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统。

为了实现上述目的，本申请实施例提供了一种单粒子闩锁维持电流测试方法，包括以下步骤：

当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，采集待测器件的电流，并将采集到的电流确认为效应电流；

以效应电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流，直至监测到处于当前离子束辐照中的待测器件、退出单粒子闩锁效应时，将当前的输入电流确认为待测器件对应的退出电流；

获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的退出电流；将各退出电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁维持电流。

在其中一个实施例中，确认待测器件出现单粒子闩锁效应的步骤，包括：

采集处于当前离子束辐照中的待测器件的当前电流和当前输出信号；

若当前电流大于正常电流、且当前输出信号与正常输出信号不同，则确认待测器件出现单粒子闩锁效应；正常电流为待测器件处于正常工作状态下的电流；正常输出信号为待测器件处于正常工作状态下输出的信号。

在其中一个实施例中，基于以下步骤确认当前输出信号与正常输出信号不同：

在当前输出信号的强度小于正常输出信号的强度时，确认当前输出信号与正常输出信号不同；

或

在当前输出信号出现信号丢失时，确认当前输出信号与正常输出信号不同。

在其中一个实施例中，确认待测器件退出单粒子闩锁效应的步骤，包括：

在当前次减小待测器件的输入电流时，采集当前次预设时长内的待测器件的持续电流和持续输出信号；