[发明专利]自主占空比校准

权利要求书

1.一种包括时钟失真校准电路的半导体装置，其经配置以：

确定何时满足一或多个占空比校准DCC条件；及

当满足所述一或多个DCC条件时，分别调整与第一电压信号及第二电压信号的第一占空比及第二占空比中的至少一者相关联的微调值。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路进一步经配置以使用所述经调整微调值校准所述第一电压信号及所述第二电压信号的所述第一占空比及所述第二占空比中的至少一者。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路经配置以仅当二分搜索的全部步骤完成时使用所述经调整微调值校准所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者。

4.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路经配置以在所述半导体装置空闲及/或所述半导体装置未处于读取模式时，作为所述半导体装置的后台操作调整所述微调值及/或校准所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者。

5.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路进一步经配置以自动确定何时满足一或多个DCC条件，调整所述微调值及/或校准所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者。

6.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路进一步经配置以停用所述半导体装置的短输入/输出暂停操作。

7.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路进一步经配置以当不满足所述一或多个DCC条件时，停止及/或暂停所述微调值的调整及/或所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者的校准。

8.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述一或多个DCC条件包含所述半导体装置中的至少一者处于读取模式及启用自主DCC。

9.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述一或多个DCC条件包含连续读取时钟的预定持续时间及连续读取时钟的预定数目个循环中的至少一者。

10.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述时钟失真校准电路进一步经配置以当所述半导体装置通电时，调整所述微调值及/或校准所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者。

11.一种方法，其包括：

确定何时满足一或多个占空比校准DCC条件；及

当满足所述一或多个DCC条件时，使用线性搜索调整微调值，其中所述微调值分别与第一电压信号及第二电压信号的第一占空比及第二占空比中的至少一者相关联。

12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括使用所述经调整微调值校准所述第一电压信号及所述第二电压信号的所述第一占空比及所述第二占空比中的至少一者。

13.根据权利要求12所述的方法，其进一步包括启用自主DCC，使得(1)所述确定包含自动确定何时满足一或多个DCC条件且(2)所述调整及所述校准包含作为后台操作分别调整所述微调值及校准所述第一占空比及所述第二占空比中的所述至少一者。

14.根据权利要求11所述的方法，其中调整所述微调值包含更新所述微调值的最低有效位。

15.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括停用短输入/输出暂停操作。

16.一种方法，其包括：

确定何时满足一或多个占空比校准DCC条件；及

当满足所述一或多个DCC条件时使用二分搜索调整微调值，其中所述微调值分别与第一电压信号及第二电压信号的第一占空比及第二占空比中的至少一者相关联。