[发明专利]一种可靠的SRAM型FPGA自主恢复系统及方法在审
申请号: | 201910377781.9 | 申请日: | 2019-05-06 |
公开(公告)号: | CN110119112A | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 杜检来;徐锡超;张慧 | 申请(专利权)人: | 上海航天电子有限公司;上海科学仪器厂有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
地址: | 201821 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 监控 加载 配置 时钟锁定指示 正常工作状态 核心状态 恢复系统 配置成功 引脚电平 流转 上电 引脚 恢复 返回 干预 监测 检测 | ||
本发明实施例提供了一种可靠的SRAM型FPGA自主恢复方法,包括监控FPGA、SRAM型FPGA,其特征在于,包括步骤:步骤1:上电监控FPGA正常工作后,所述监控FPGA对所述SRAM型FPGA进行加载配置;步骤2:加载配置完成后,对所述SRAM型FPGA的配置成功引脚进行检测,如果所述引脚电平为高,则流转到步骤3,否则返回到步骤1;步骤3:加载配置正常后,所述监控FPGA同时对来自所述SRAM型FPGA的时钟锁定指示和核心状态指示进行监控,监测到异常时对所述SRAM型FPGA进行干预,使之恢复到正常工作状态。
技术领域
本发明属于卫星测控技术领域,尤其涉及一种可靠的SRAM型FPGA自主恢复系统及方法。
背景技术
测控应答机作为测控分系统的重要组成部分,它在卫星与测控地面站之间提供双向射频传输信道,配合测控地面站共同完成对卫星的跟踪、测量、遥控、遥测等任务,一般由射频通道和信号处理基带等几大单元组成,而信号处理基带是测控应答机的核心部分。
由于SRAM型FPGA具有实时处理性能强、能够并行处理、功耗低等特点,目前相当部分的测控应答机采用SRAM型FPGA,在选型时尤其以Xilinx公司FPGA居多,实现应答机的中频处理功能,包括载波的捕获跟踪、遥控解调、测量解调以及遥测调制、测距转发等功能。FPGA作为核心器件对测控应答机及其重要,如果运行异常则会导致测控应答机的功能失效,影响星地间的数据通信。因此,需要对FPGA的运行状态进行健壮性设计,当发现异常时能够自主恢复运行。
常规的FPGA自主恢复技术可以分为两大类:卫星其他电子设备发送程控指令/直接指令对应答机进行复位操作;应答机内部采用反熔丝FPGA(监控FPGA)对SRAM型FPGA进行动态刷新。第一种方法需要外部接口、程序进行干预,第二种方法只能对FPGA的部分区域进行自主操作。因此,需要一种可靠的FPGA自主恢复技术,能够自主运行、对FPGA各种异常情况进行恢复。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可靠的SRAM型FPGA自主恢复系统,其特征在于,包括监控FPGA、PROM存储器、SRAM型FPGA,其中,所述监控FPGA用于读取PROM存储器中的数据,同时将所述PROM存储器中的数据引导加载配置至所述SRAM型FPGA;所述监控FPGA还用于在数据加载完成后,对所述SRAM型FPGA的状态进行监视。
优选地,所述SRAM型FPGA还包括DCM时钟管理单元,所述DCM时钟管理单元用于向所述监控FPGA发送时钟锁定指示,以及接收所述监控FPGA的配置数据。
优选地,所述PROM存储器中的数据引导加载配置至所述SRAM型FPGA包括:
步骤11:按照所述PROM存储器的数据读取时序进行数据的读取,并对读取的数据进行校验,验证读取数据的正确性;如果数据不正确,重新对PROM存储器的数据进行读取;
步骤12:读取数据正确后,按照所述SRAM型FPGA的加载时序进行数据配置,实现所述SRAM型FPGA的加载配置。
优选地,所述监控FPGA选用反熔丝FPGA。
本发明还提供了一种可靠的SRAM型FPGA自主恢复方法,包括监控FPGA、PROM存储器、SRAM型FPGA,其特征在于,包括步骤:
步骤1:上电监控FPGA正常工作后,所述监控FPGA对所述SRAM型FPGA进行加载配置;
步骤2:加载配置完成后,对所述SRAM型FPGA的配置成功引脚进行检测,如果所述引脚电平为高,则流转到步骤3,否则返回到步骤1;
步骤3:加载配置正常后,所述监控FPGA同时对来自所述SRAM型FPGA的时钟锁定指示和核心状态指示进行监控,监测到异常时对所述SRAM型FPGA进行干预,使之恢复到正常工作状态。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天电子有限公司;上海科学仪器厂有限公司,未经上海航天电子有限公司;上海科学仪器厂有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910377781.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。