[发明专利]存储装置测试系统及存储装置测试方法

权利要求书

1.一种存储装置测试系统，其特征在于，包括：

电子装置，包括处理器及耦接到所述处理器的内部存储装置；以及

外部存储装置，耦接到所述电子装置的所述处理器，其中，

所述处理器接收测试脚本并执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行测试操作，

所述处理器将对应所述测试操作的测试记录文件传送到所述外部存储装置。

2.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述内部存储装置接收多个应用程序套件，所述处理器执行所述测试脚本以对所述多个应用程序套件执行多次的安装及卸载操作并判断每次的所述安装及卸载操作是否成功，其中所述多个应用程序套件的大小不同。

3.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行多次循序及随机读写并判断所述内部存储装置是否产生错误。

4.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行多次循序及随机读写并判断每次所述循序及随机读写的读写效能，判断第几次所述循序及随机读写的所述读写效能小于门槛值，并在每次所述循序及随机读写后将所述读写效能传送到所述外部存储装置。

5.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以执行视频但不将所述视频的视频数据传送到显示器，并判断所述电子装置是否产生异常状态。

6.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以进行多次休眠及唤醒操作，并判断所述内部存储装置是否产生错误。

7.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以进行多次软开机操作，并判断所述电子装置是否产生异常状态。

8.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以进行多次读取操作，并判断所述电子装置是否产生异常状态。

9.根据权利要求1所述的存储装置测试系统，其中所述处理器执行所述测试脚本以进行多次读取操作并在所述多次读取操作过程进行软开机操作，并在所述软开机操作后判断对应所述多次读取操作的数据是否正确。

10.一种存储装置测试方法，适用于电子装置及外部存储装置，其特征在于，所述电子装置包括处理器及耦接到所述处理器的内部存储装置，所述外部存储装置耦接到所述电子装置的所述处理器，所述存储装置测试方法包括：

通过所述处理器接收测试脚本并执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行测试操作；以及

通过所述处理器将对应所述测试操作的测试记录文件传送到所述外部存储装置。

11.根据权利要求10所述的存储装置测试方法，其中所述内部存储装置接收多个应用程序套件，所述处理器执行所述测试脚本以对所述多个应用程序套件执行多次的安装及卸载操作并判断每次的所述安装及卸载操作是否成功，其中所述多个应用程序套件的大小不同。

12.根据权利要求10所述的存储装置测试方法，其中所述处理器执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行多次循序及随机读写并判断所述内部存储装置是否产生错误。

13.根据权利要求10所述的存储装置测试方法，其中所述处理器执行所述测试脚本以对所述内部存储装置进行多次循序及随机读写并判断每次所述循序及随机读写的读写效能，判断第几次所述循序及随机读写的所述读写效能小于门槛值，并在每次所述循序及随机读写后将所述读写效能传送到所述外部存储装置。

14.根据权利要求10所述的存储装置测试方法，其中所述处理器执行所述测试脚本以执行视频但不将所述视频的视频数据传送到显示器，并判断所述电子装置是否产生异常状态。