[发明专利]存储装置测试系统及存储装置测试方法

说明书

本公开提出一种存储装置测试系统及存储装置测试方法。存储装置测试系统包括：电子装置，包括处理器及耦接到处理器的内部存储装置；以及外部存储装置，耦接到电子装置的处理器。处理器接收测试脚本并执行测试脚本以对内部存储装置进行测试操作。处理器将对应测试操作的测试记录文件传送到外部存储装置。

技术领域

本公开涉及一种存储装置测试系统及存储装置测试方法，尤其涉及一种自动化测试存储装置的存储装置测试系统及存储装置测试方法。

背景技术

现有的手机测试系统通常将测试设备连结到手机以进行测试，这造成测试上的不便。当测试过程中发生手机的内存损坏或手机系统死机时，可能会导致重要测试信息的流失。因此，如何对手机内部存储装置进行测试并在错误产生时保有完整的测试信息是本领域技术人员应致力的目标。

发明内容

本公开提供一种存储装置测试系统及存储装置测试方法，对手机内部存储装置进行自动化测试并在错误产生时保有完整的测试信息。

本公开提出一种存储装置测试系统包括：电子装置，包括处理器及耦接到处理器的内部存储装置；以及外部存储装置，耦接到电子装置的处理器。处理器接收测试脚本并执行测试脚本以对内部存储装置进行测试操作。处理器将对应测试操作的测试记录文件传送到外部存储装置。

本公开提出一种存储装置测试方法，适用于电子装置及外部存储装置。电子装置包括处理器及耦接到处理器的内部存储装置。外部存储装置耦接到电子装置的处理器。存储装置测试方法包括：通过处理器接收测试脚本并执行测试脚本以对内部存储装置进行测试操作；以及通过处理器将对应测试操作的测试记录文件传送到外部存储装置。

基于上述，本公开的存储装置测试系统及存储装置测试方法能通过电子装置的处理器执行测试脚本来测试电子装置的内部存储装置，并将测试记录文件传送到外部存储装置。

为让本公开的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1为根据本公开一实施例的存储装置测试系统的方块图。

图2为根据本公开一实施例的存储装置测试方法的流程图。

【符号说明】

100：存储装置测试系统

110：电子装置

111：处理器

112：内部存储装置

120：外部存储装置

S201～S208：存储装置测试方法的步骤

具体实施方式

图1为根据本公开一实施例的存储装置测试系统的方块图。

请参照图1，本公开一实施例的存储装置测试系统100包括电子装置110及外部存储装置120。电子装置110包括处理器111及耦接到处理器111的内部存储装置112。外部存储装置120耦接到电子装置110的处理器111。电子装置110例如是智能手机、平板电脑、智能手表等类似装置。电子装置110可执行安卓(android)平台、iOS平台或其他种类的系统平台。处理器111例如是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、微处理器控制单元(Microprocessor Control Unit，MCU)或其他类似元件。内部存储装置112例如是反及闸快闪存储器(NAND flash)或其他类似元件。外部存储装置120例如是安全数字卡(SecureDigital card，SD card)或其他类似元件。