[发明专利]高纯砷的除杂方法有效
申请号: | 201910382045.2 | 申请日: | 2019-05-09 |
公开(公告)号: | CN110004308B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 刘留;曾小东;郭金伯;朱刘;何志达;陈昭龙 | 申请(专利权)人: | 广东先导先进材料股份有限公司 |
主分类号: | C22B30/04 | 分类号: | C22B30/04 |
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地址: | 511517 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高纯 方法 | ||
1.一种高纯砷的除杂方法,其特征在于:其包括如下步骤:
S1、石英管预处理:将使用过的石英管放入王水中浸泡一段时间,捞出石英管用超纯水冲洗石英管直到洁净,然后将石英管装入一氢化还原炉中用于生产;
S2、表层砷挥发:将氢化还原炉中生产的整根高纯砷置于一真空装置中,用真空泵将真空装置的真空度抽至50Pa以下,将真空装置加热至300~600℃,保温1-5h,整根高纯砷的表层部分挥发去除,附着在整根高纯砷表层部分的杂质元素也随着挥发去除;
S3、破碎、筛分:将整根高纯砷破碎成块状砷,破碎过程中,10%-15%的高纯砷成为细粉;用高纯筛网将细粉与块状砷筛分分离,在筛分的同时采用吸尘器分离吸附在块状砷表面的细粉,取块状砷样品检测其表面的杂质元素的含量;
S4、深度除杂:将块状砷置于真空装置中,用真空泵将真空装置的真空度抽至50Pa以下,将真空装置加热至300-650℃,保温1-15h,块状砷的表层部分挥发去除,附着在块状砷表层的杂质元素也随着块状砷的表层部分挥发去除,得到高纯砷产品;
S2中,整根高纯砷的表面部分挥发去除的厚度为0.02mm~0.1mm;
S4中,块状砷的表层部分挥发去除的厚度为0.02mm~0.08mm。
2.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S3中,块状砷的粒径范围为3-10mm。
3.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S2中,整根高纯砷的纯度为6N。
4.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:所述杂质元素包括S、Si、Na、Mg、Fe或Zn。
5.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S1中,浸泡时间为2-3h。
6.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S4中,高纯砷产品的纯度大于7.5N。
7.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S4中,高纯砷产品中的Si含量小于10ppb。
8.根据权利要求1所述的高纯砷的除杂方法,其特征在于:S4中,S、Na、Mg、Fe、Zn的含量均小于2ppb。
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