[发明专利]高纯砷的除杂方法有效

专利信息
申请号: 201910382045.2 申请日: 2019-05-09
公开(公告)号: CN110004308B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 刘留;曾小东;郭金伯;朱刘;何志达;陈昭龙 申请(专利权)人: 广东先导先进材料股份有限公司
主分类号: C22B30/04 分类号: C22B30/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 511517 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高纯 方法
【说明书】:

发明涉及一种高纯砷的除杂方法,其包括如下步骤:S1、石英管预处理;S2、表层砷挥发;S3、破碎、筛分;S4、深度除杂。本方法利用砷在真空条件下可以升华的特性,提供一种高纯砷除Si、S、Na、Mg、Fe、Zn杂质元素的方法,此方法操作简单、除杂彻底、无污染、效率高、易于规模化生产、生产成本低。处理后的产品纯度可以达到7.5N以上,Si含量小于10ppb,S、Na、Mg、Fe、Zn含量均小于2ppb,达到MBE源的使用要求。

技术领域

本发明涉及高纯砷的制备领域,尤其涉及一种高纯砷的除杂方法。

背景技术

高纯砷是合成砷化镓、砷化锌、砷化铟、硒化砷等化合物的主要原料。广泛应用于集成电路、芯片器件、霍尔元件、硫系玻璃、5G通讯等领域。近年来,随着高新技术产业的发展,高纯砷的应用领域日益广泛,对高纯砷的纯度要求越来越高。

其中生产高纯砷的常见方法是氯化砷的氢化还原法,前段提纯已经将三氯化砷提纯到了7.5N以上了。由于氢化还原工艺需要高温,还原管需要既耐高温又要耐强腐蚀,还原管的常用材质是石英。然而,石英还原管的使用不可避免会引入杂质元素Si。与此同时,在还原后高纯砷的转移、破碎过程中由于高纯砷表面棱角锋利,难以避免会接触到橡胶类手套、PE袋(均含有杂质元素S),再加上操作环境中微小尘埃粒子的影响,也会带入微量的S、Na、Mg、Fe、Zn等杂质。

这些杂质的存在会影响高纯砷的纯度和经济价值,因此,亟需一种高纯砷的除杂方法清除这些杂质,避免其纯度降低、经济价值降低。

发明内容

本发明的目的在于提出一种效率高、易于规模化生产、生产成本低的高纯砷的除杂方法。

为实现前述目的,本发明采用如下技术方案:一种高纯砷的除杂方法,其包括如下步骤:

S1、石英管预处理:将使用过的石英管放入王水中浸泡一段时间,捞出石英管用超纯水冲洗石英管直到洁净,然后将石英管装入一氢化还原炉中用于生产;

S2、表层砷挥发:将氢化还原炉中生产的整根高纯砷置于一真空装置中,用真空泵将真空装置的真空度抽至50Pa以下,将真空装置加热至300~600℃,保温1-5h,整根高纯砷的表层部分挥发,附着在整根高纯砷表层部分的杂质元素也随着挥发;

S3、破碎、筛分:将整根高纯砷破碎成块状砷,破碎过程中,10%-15%的高纯砷成为细粉;用高纯筛网将细粉与块状砷筛分分离,在筛分的同时采用吸尘器分离吸附在块状砷表面的细粉,取块状砷样品检测其表面的杂质元素的含量;

S4、深度除杂:将块状砷置于真空装置中,用真空泵将真空装置的真空度抽至50Pa以下,将真空装置加热至300-650℃,保温1-15h,块状砷的表层部分挥发,附着在块状砷表层的杂质元素也随着块状砷的表层部分挥发,得到高纯砷产品。

作为本发明的进一步改进,S3中,块状砷的粒径范围为3-10mm。

作为本发明的进一步改进,S2中,整根高纯砷的纯度为6N。

作为本发明的进一步改进,S2中,整根高纯砷的表面部分挥发去除的厚度为0.02mm~0.1mm。

作为本发明的进一步改进,所述杂质元素包括S、Si、Na、Mg、Fe或Zn。

作为本发明的进一步改进,S1中,浸泡时间为2-3h。

作为本发明的进一步改进,S4中,块状砷的表层部分挥发去除的厚度为0.02mm~0.08mm。

作为本发明的进一步改进,S4中,高纯砷产品的纯度大于7.5N。

作为本发明的进一步改进,S4中,高纯砷产品中的Si含量小于10ppb。

作为本发明的进一步改进,S4中,S、Na、Mg、Fe、Zn的含量均小于2ppb。

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