[发明专利]一种电离层参数临界频率的区域重构方法有效

专利信息
申请号: 201910389146.2 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN110288117B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 孙秀志;贾文科;韩阳;姬生云;韩峰;王健;杨铖;苏海斌;付炜 申请(专利权)人: 中国人民解放军31007部队;中国电子科技集团公司第二十二研究所;青岛农业大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06F30/20
代理公司: 北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙) 11781 代理人: 李学康
地址: 100079 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电离层 参数 临界频率 区域 方法
【权利要求书】:

1.一种电离层参数临界频率的区域重构方法,其特征在于:它包括如下步骤,

步骤A:读取探测站点的经纬度,实时探测的F2层临界频率foF2以及探测时间;

步骤B:选择电离层重构的区域,确定网格点经、纬度;

步骤C:通过输入的时间,利用中国参考电离层计算这些网格点上的电离层参数foF2;

步骤D:利用Kalman滤波同化方法重构F2层临界频率foF2;

所述的步骤B包括如下步骤:

步骤B1:计算网格点纬度向量λimin和λmax分别代表最小纬度和最大纬度,λd表示网格在纬度方向上的间隔大小,λn为纬度方向的网格点数量,

λn=int[(λmaxmin)/λd]+1

λi=(λminmindmin+2×λd,……,λmin+i×λd,……,λminn×λdmax)

步骤B2:计算网格点经度向量θi,θmin和θmax分别代表最小经度和最大经度,θd表示网格在经度方向上的间隔大小,θm为经度方向的网格点数量;

θm=int[(θmaxmin)/θd]+1

θi=(θminmindmin+2×θdmin+i×θd,……,θminm×θdmax)

步骤B3:生成重构区域的网格点经纬度矩阵;

所述的步骤D包括如下步骤,

步骤D1:计算背景场误差协方差矩阵Pb,指中国参考电离层计算探测点位置的月中值结果与实际探测数据误差的协方差;

步骤D2:计算背景场的相关矩阵,用欧式距离计算各个网格点经纬度、F2层临界频率foF2的距离,利用高斯相关函数计算相关矩阵R,其中欧式距离的计算公式中有三个变量,分别是纬度、经度和F2层临界频率foF2,其中的F2层临界频率foF2由中国参考电离层计算获得,网格点经纬度由步骤B计算获得,

式中,fa和fb分别为不同网格点a和b对应的foF2,单位为MHz,λa,λb分别为不同网格点a和b对应的纬度,θa,θb分别为不同网格点a和b对应的经度,l是特征尺度,选择为0.01;

步骤D3:计算增益矩阵K;

K=PbHT(HPbHT+R)-1

其中,H是观测算子,

H=E,即H(i,j)=1

步骤D4:预测网格点F2层临界频率foF2;

xa=xb+K(xo-Hxb)

其中,xa为预测结果,xb为参考电离层计算结果,xo为实时探测结果。

2.如权利要求1所述的一种电离层参数临界频率的区域重构方法,其特征在于:所述的步骤A中的经纬度的单位是“度”,探测时间包括年、月、日和北京时。

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