[发明专利]一种电离层参数临界频率的区域重构方法有效

专利信息
申请号: 201910389146.2 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN110288117B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 孙秀志;贾文科;韩阳;姬生云;韩峰;王健;杨铖;苏海斌;付炜 申请(专利权)人: 中国人民解放军31007部队;中国电子科技集团公司第二十二研究所;青岛农业大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06F30/20
代理公司: 北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙) 11781 代理人: 李学康
地址: 100079 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电离层 参数 临界频率 区域 方法
【说明书】:

发明公开了一种电离层参数临界频率的区域重构方法,它包括如下步骤,步骤A:读取探测站点的经纬度,实时探测的电离层参数foF2以及探测时间;步骤B:选择电离层重构的区域,确定网格点经、纬度;步骤C:通过输入的时间,利用中国参考电离层计算这些网格点上的电离层参数foF2;步骤D:利用Kalman滤波同化方法重构电离层特性参数foF2。有益效果在于:本发明引入了实时的探测数据,在中国参考电离层的基础上进行了融合修正,预报结果的准确度更高,为短波通信选频提供更可靠的数据支撑。本发明基于Kalman滤波的电离层临界频率foF2的区域重构方法,基于实时探测的电离层参数foF2,能够实现更加准确的区域重构预报。

技术领域

本发明属于一种电离层特性计算方法,具体涉及一种电离层参数临界频率 的区域重构方法。

背景技术

中国参考电离层和国际参考电离层公开了一种基于历史数据的电离层特性 参数预报方法,该方法基于数十个站点的探测数据,通过统计分析,获得了电 离层变化的统计模型,根据太阳黑子数进行电离层特性参数的预测。该模型的 缺点是只能预测统计月中值,实时预报结果准确度较低。

发明内容

本发明的目的提供一种电离层参数临界频率的区域重构方法,它克服了中 国参考电离层只能预测月中值的缺点,实现更加准确的区域重构预报。

本发明的技术方案如下:一种电离层参数临界频率的区域重构方法,它包 括如下步骤,

步骤A:读取探测站点的经纬度,实时探测的F2层临界频率foF2以及探测 时间;

步骤B:选择电离层重构的区域,确定网格点经、纬度;

步骤C:通过输入的时间,利用中国参考电离层计算这些网格点上的F2层 临界频率foF2;

步骤D:利用Kalman滤波同化方法重构F2层临界频率foF2。

所述的步骤A中的经纬度的单位是“度”,探测时间包括年、月、日和北京 时。

所述的步骤B中的区域是矩形区域,包括最小和最大经纬度,网格间隔大 小,最大/最小经纬度和网格间隔大小的单位是“度”。

所述的步骤B包括如下步骤:

步骤B1:计算网格点纬度向量λimin和λmax分别代表最小纬度和最大纬度, λd表示网格在纬度方向上的间隔大小,λn为纬度方向的网格点数量,

λn=int[(λmaxmin)/λd]+1

λi=(λminmindmin+2×λd,……,λmin+i×λd,……,λminn×λdmax)

步骤B2:计算网格点经度向量θi,θmin和θmax分别代表最小经度和最大经 度,θd表示网格在经度方向上的间隔大小,θm为经度方向的网格点数量;

θm=int[(θmaxmin)/θd]+1

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