[发明专利]表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种表面涂层测量方法，所述方法包括：

接收待测量的表面涂层的切面图像，所述表面涂层包括多孔涂层体，所述多孔涂层体设置于外科植入物的表面；

将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像，标定所述待分析图像的像素间距离；

根据所述待分析图像中各像素点的像素值，从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据；

根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状，根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线；

根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量，根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像，包括：

获取预设存储格式和预设缩放比例；

根据所述预设存储格式将所述切面图像的图像存储格式进行格式转换，将所述切面图像按照所述预设缩放比例进行缩放处理；

将经过格式转换和缩放处理的所述切面图像进行二值化转换得到待分析图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标定所述待分析图像的像素间距离，包括：

获取所述切面图像的图像标尺数据，根据所述图像标尺数据得到缩放处理前的所述切面图像的像素间距离；

根据所述预设缩放比例和缩放处理前的像素间距离，得到所述待分析图像的像素间距离。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据，包括：

根据所述待分析图像的二值化转换结果，判定所述待分析图像中的图像背景侧；

从所述图像背景侧开始逐行检测所述待分析图像的各像素列中每行的像素值，并根据检测到的像素值确定像素值突变点；

将离所述图像背景侧最近的像素值突变点的像素坐标位置提取为第一位置数据，将离所述图像背景侧最远的像素值突变点的像素坐标位置提取为第二位置数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据之后，包括：

根据所述第一位置数据绘制外边界线，根据所述第二位置数据绘制接触边界线；

在所述待分析图像上建立直角坐标系，所述直角坐标系的横轴方向根据所述待分析图像的水平方向设定。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状，包括：

对所述接触边界线进行平滑化处理，再对平滑化处理后的接触边界线进行间隔采样，根据采样点位置数据计算相邻采样点间的连线斜率，根据所述连线斜率得到所述接触边界的斜率变化率；

当所述斜率变化率未超过预设变化率阈值时，判定所述接触边界的边界形状为直线；

当所述斜率变化率超过所述预设变化率阈值时，判定所述接触边界的边界形状为曲线。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线，包括：

当判定出所述边界形状为直线时，将所述接触边界线根据预设等分数值沿横轴方向进行等分得到第一等分点；

以所述第一等分点为起点，绘制垂直于所述接触边界线直线拟合方向，并朝向所述外边界线且与所述外边界线相交的线段，将绘制的所述线段作为边界连线。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线，包括：

当判定出所述边界形状为曲线时，对所述接触边界线进行平滑处理得到平滑曲线；

将所述平滑曲线根据预设等分数值沿横轴方向进行等分得到第二等分点；

以所述第二等分点为起点，绘制垂直于所述平滑曲线的切线方向，且向所述外边界线方向延伸的与所述外边界线相交的线段，将绘制的所述线段作为边界连线。