[发明专利]表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及图像处理技术领域，特别涉及一种表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：接收待测量的表面涂层的切面图像；将切面图像转换为预设图像格式的待分析图像，标定待分析图像的像素间距离；从待分析图像中提取表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据；根据第二位置数据判定接触边界的边界形状，根据边界形状生成外边界与接触边界之间连接的边界连线；根据第一位置数据和第二位置数据确定各边界连线的像素数量，根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。采用本方法能够提高表面涂层参数测量准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

关节假体等骨科植入物，对于与人体骨骼接触界面的结合强度以及其自身的稳定性均有极高要求。一些植入物表面涂有具有生物相容性的多孔涂层，以利于骨长入。该表面涂层的性能一般通过涂层的平均厚度等重要参数进行表征，因此，对于上述参数测量的准确性也有着较高要求。

目前，对于表面涂层的测量过程一般是通过高倍显微镜拍摄涂层的切面放大图片，然后采用电子尺等测量工具在切面图片上人工量取涂层厚度等数据。手工测量的方法受人为主观影响较大，导致得到的测量数据很不稳定，多批次之间的测量数据难于进行统计分析，统计结果与实际数据存在很大偏差。此外，手工测量的工作量巨大，需要耗费大量人力。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种提高表面涂层参数测量准确性的表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种表面涂层测量方法，所述方法包括：

接收待测量的表面涂层的切面图像；

将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像，标定所述待分析图像的像素间距离；

从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据；

根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状，根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界的边界等分连线；

根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量，根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。

在其中一个实施例中，所述将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像，包括：

获取预设存储格式和预设缩放比例；

根据所述预设存储格式将所述切面图像的图像存储格式进行格式转换，将所述切面图像按照所述预设缩放比例进行缩放处理；

将经过格式转换和缩放处理的所述切面图像进行二值化转换得到待分析图像。

在其中一个实施例中，所述标定所述待分析图像的像素间距离，包括：

获取所述切面图像的图像标尺数据，根据所述图像标尺数据得到缩放处理前的所述切面图像的像素间距离；

根据所述预设缩放比例和缩放处理前的像素间距离，得到所述待分析图像的像素间距离。

在其中一个实施例中，所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据，包括：

根据所述待分析图像的二值化转换结果，判定所述待分析图像中的图像背景侧；

从所述图像背景侧方向开始逐行检测所述待分析图像的各像素列中每行的像素值并得到像素值突变点；

将离所述图像背景侧最近的像素值突变点的像素坐标位置提取为第一位置数据，将离所述图像背景侧最远的像素值突变点的像素坐标位置提取为第二位置数据。