[发明专利]一种检测方法和检测系统有效

专利信息
申请号: 201910394104.8 申请日: 2019-05-13
公开(公告)号: CN111928773B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 陈鲁;吕肃;李青格乐;张嵩 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/30;G01B11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518110 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种检测方法,其特征在于,包括:

提供具有旋转轴的检测设备,基准物和待测物可绕所述旋转轴旋转,所述基准物具有特征点,所述特征点相对于所述旋转轴具有旋转不对称性;

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转预设角度之前的所述基准物进行检测,获得所述特征点的第一坐标数据;

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后的所述基准物进行检测,获得所述特征点的第二坐标数据;

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之前的所述待测物进行检测,获得所述待测物第一面的第三坐标数据;

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后的所述待测物进行检测,获得所述待测物第二面的第四坐标数据;

根据所述第一坐标数据和所述第二坐标数据获得所述预设角度的转换关系;

根据所述预设角度的转换关系对所述第三坐标数据和所述第四坐标数据进行拼接处理,获得所述待测物的检测信息;

其中,所述基准物包括至少一个特征结构,所述特征结构包括所述特征点,所述特征结构沿不经过所述特征点的任意直线具有旋转不对称性;

获得特征点的第一坐标数据包括:通过检测设备的检测机构对绕旋转轴旋转预设角度之前的基准物进行检测,获得特征结构表面多个点的第五坐标数据;根据第五坐标数据以及特征结构的结构参数,获得特征点的第一坐标数据;获得特征点的第二坐标数据包括:通过检测设备的检测机构对绕旋转轴旋转预设角度之后的基准物进行检测,获得特征结构表面多个点的第六坐标数据;根据第六坐标数据以及特征结构的结构参数,获得特征点的第二坐标数据;

所述基准物为片状结构,所述基准物包括相对的第三面和第四面,所述特征结构为贯穿所述第三面和第四面的通孔;所述第五坐标数据对应的点位于所述通孔的侧壁与所述第三面的交线上,所述第六数据对应的点位于所述通孔的侧壁与所述第四面的交线上;所述结构参数包括所述通孔的深度,所述特征点为通孔的中心;

提取通孔的中心的步骤包括:根据所述第五坐标数据或第六坐标数据,获取基准物第三面或第四面的法线方向;获取沿法线方向上距离基准物第三面或第四面的距离为基准物厚度一半的点,得到通孔的中心。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获得所述特征点的第一坐标数据之后,使所述基准物绕所述旋转轴旋转所述预设角度;

使所述基准物绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后,通过所述检测设备的检测机构对所述基准物进行检测,获得所述特征点的第二坐标数据;

在获得所述待测物第一面的第三坐标数据之后,

使所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度;

使所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后,通过所述检测设备的检测机构对所述待测物进行检测,获得所述待测物第二面的第四坐标数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

通过所述检测设备的检测机构对所述基准物和所述待测物进行检测,获得所述特征点的第一坐标数据以及所述待测物第一面的第三坐标数据之后,使所述基准物和所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度;

使所述基准物和所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后,通过所述检测设备的检测机构对所述基准物和所述待测物进行检测,获得所述特征点的第二坐标数据以及所述待测物第二面的第四坐标数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一面和所述第二面为所述待测物相对的两个表面;

所述预设角度为120°~240°。

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