[发明专利]一种检测方法和检测系统

说明书

本发明提供了一种检测方法和检测系统，包括：提供具有旋转轴的检测设备，通过检测设备对绕旋转轴旋转之前的基准物进行检测获得特征点的第一坐标数据，通过检测设备对绕旋转轴旋转之后的基准物进行检测获得特征点的第二坐标数据，通过检测设备对绕旋转轴旋转之前的待测物进行检测获得待测物第一面的第三坐标数据，通过检测设备对绕旋转轴旋转之后的待测物进行检测获得待测物第二面的第四坐标数据，根据第一坐标数据和第二坐标数据获得预设角度的转换关系，根据预设角度的转换关系对第三坐标数据和第四坐标数据进行拼接，将第三坐标数据和第四坐标数据统一到同一坐标系下，进而可以获得待测物第一面和第二面的相对位置信息，获得待测物的检测信息。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，更具体地说，涉及一种检测方法和检测系统。

背景技术

随着现代工业的发展，精密加工被应用到越来越多的领域中，同时，人们对加工精度也提出了更高的要求。为了满足加工精度需求，提高加工样品合格率，人们常对加工过程及加工成品进行形貌畸变检测，确保其畸变在可容忍范围内。

现有的畸变检测一般采用三维检测方法，现有技术中，常用的三维检测方法包括接触式检测和非接触式检测。接触式检测设备主要包括三坐标测量仪；非接触式检测设备主要包括光学检测设备，所采用的测量方法包括：激光三角法、干涉法、共聚焦法等光学测量方法。由于非接触式检测不需要与待测物接触，对待测物的损伤较小，因此，受到越来越多的关注。

但是，现有的畸变检测往往仅需要对待测物的一面进行检测，获取待测物一个表面的畸变信息；或者，分别检测多个表面，分别获得多个表面的畸变信息。然而，在工业检测中，往往需要获取待测物不同的两面之间的相对位置(例如待测物的厚度)畸变信息，而现有的检测方法无法获取多个面的相对位置畸变信息。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种检测方法和检测系统，以解决现有的检测方法无法获取待测物多个面的相对位置畸变信息的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种检测方法，包括：

提供具有旋转轴的检测设备，基准物和待测物可绕所述旋转轴旋转，所述基准物具有特征点，所述特征点相对于所述旋转轴具有旋转不对称性；

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转预设角度之前的所述基准物进行检测，获得所述特征点的第一坐标数据；

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后的所述基准物进行检测，获得所述特征点的第二坐标数据；

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之前的所述待测物进行检测，获得所述待测物第一面的第三坐标数据；

通过所述检测设备的检测机构对绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后的所述待测物进行检测，获得所述待测物第二面的第四坐标数据；

根据所述第一坐标数据和所述第二坐标数据获得所述预设角度的转换关系；

根据所述预设角度的转换关系对所述第三坐标数据和所述第四坐标数据进行拼接处理，获得所述待测物的检测信息。

可选地，在获得所述特征点的第一坐标数据之后，使所述基准物绕所述旋转轴旋转所述预设角度；

使所述基准物绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后，通过所述检测设备的检测机构对所述基准物进行检测，获得所述特征点的第二坐标数据；

在获得所述待测物第一面的第三坐标数据之后，

使所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度；

使所述待测物绕所述旋转轴旋转所述预设角度之后，通过所述检测设备的检测机构对所述待测物进行检测，获得所述待测物第二面的第四坐标数据。