[发明专利]半导体设备和调试方法无效
申请号: | 201910398237.2 | 申请日: | 2019-05-14 |
公开(公告)号: | CN110532164A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 新井悠太;长谷川恭子;佐佐木宏幸 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 李辉;张昊<国际申请>=<国际公布>=< |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 第二处理器 第一处理器 调试电路 错误控制电路 调试 错误信号 半导体设备 半导体装置 输出 调试程序 不一致 核停止 有效地 锁步 | ||
1.一种半导体装置,包括:
第一处理器核;
第二处理器核,相对于所述第一处理器核具有冗余配置;
第一调试电路,用于所述第一处理器核,进行关于调试的第一设置;
第二调试电路,用于所述第二处理器核,进行关于调试的第二设置,关于调试的所述第二设置不同于关于调试的所述第一设置;
确定电路,确定所述第一处理器核对程序的第一处理结果与所述第二处理器核对所述程序的第二处理结果是否匹配;以及
错误控制电路,能够基于所述确定电路的确定结果输出错误信号,用于停止由所述第一处理器核和所述第二处理器核执行所述程序,
其中如果所述第一处理结果和所述第二处理结果彼此不匹配,并且如果所述第一处理器核基于关于调试的所述第一设置执行所述程序且所述第二处理器核基于关于调试的所述第二设置停止执行所述程序,则所述控制电路禁止输出所述错误信号。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,还包括选择电路,所述选择电路选择所述第一调试电路和所述第二调试电路中的至少一个调试电路以提供来自模拟器的指令,
其中所述第一调试电路根据来自所述模拟器的指令执行关于调试的所述第一设置,
其中所述第二调试电路根据来自所述模拟器的指令执行关于调试的所述第二设置。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,其中当所述第一处理器核和所述第二处理器核执行所述程序且所述第一处理结果和所述第二处理结果不匹配时,所述错误控制电路输出所述错误信号。
4.根据权利要求1所述的半导体装置,
其中所述第二调试电路设置用于停止由所述第二处理器核执行所述程序的断点,并且
其中如果所述第一处理结果和所述第二处理结果在由所述第二处理器核执行所述程序到达所述断点时匹配,则所述第二处理器核停止执行所述程序。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,其中所述第二调试电路获取停止执行所述程序的所述第二处理器核的内部信息。
6.根据权利要求4所述的半导体装置,
其中所述第二处理器核包括:
指令执行单元,执行所述程序中包括的指令;
断点检测电路,基于所述指令执行单元的执行地址和由所述第二调试电路设置的断点来检测到达所述断点;以及
请求输出电路,基于所述断点检测电路的检测结果和所述确定电路的确定结果,将用于停止执行所述程序的断开请求信号输出至所述指令执行单元,并且
其中当所述断点检测电路检测到到达所述断点且所述第一处理结果和所述第二处理结果匹配时,所述请求输出电路向所述指令执行单元输出所述断开请求信号。
7.一种半导体装置,包括:
第一处理器核;
第二处理器核,相对于所述第一处理器核具有冗余配置;
第一调试电路,用于所述第一处理器核,进行关于调试的第一设置;
第二调试电路,用于所述第二处理器核,进行关于调试的第二设置,关于调试的所述第二设置不同于关于调试的所述第一设置,
确定电路,确定所述第一处理器核对程序的第一处理结果与所述第二处理器核对所述程序的第二处理结果是否匹配;以及
错误控制电路,能够基于所述确定电路的确定结果输出错误信号,用于停止由所述第一处理器核和所述第二处理器核执行所述程序,
其中在所述第一处理器核的第一初始化目标寄存器中设置第一值,
其中在所述第二处理器核的第二初始化目标寄存器中设置不同于所述第一值的第二值,所述第二处理器核的所述第二初始化目标寄存器对应于所述第一处理器核的所述第一初始化目标寄存器,
其中所述第一处理器核和所述第二处理器核在设置所述第一值和所述第二值之后开始执行所述程序,并且
其中所述第一处理器核和所述第二处理器核分别将根据所述程序的初始值写入由所述程序指定的所述第一初始化目标寄存器和所述第二初始化目标寄存器中。
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