[发明专利]一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请提供了一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质，属于图像处理技术领域。该方法包括：获取待校正的渐晕图像；基于所述渐晕图像与校正图像的换算公式计算在满足预设约束条件下的不同校正参数对应下的校正图像的对数强度熵；从计算出的校正图像的对数强度熵中选取不小于预设阈值且最小的对数强度熵，作为目标对数强度熵；将基于所述目标对数强度熵对应的校正参数求得的校正图像作为目标校正图像。在本申请实施例中，该方法在对渐晕图像的校正中，在现有采用最小化对数强度熵对渐晕图像进行校正的约束条件下增加了一个预设阈值作为约束条件，防止出现图像过度校正的情况，进而提高了渐晕图像校正的准确性。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

渐晕是图像中像素光强沿径向方向衰减的现象，会严重影响图像的视觉效果，研究发现，图像中的渐晕会在图像中引入额外的信息量，导致图像的对数强度熵增大，因此，目前对于渐晕图像的校正是将图像的最小对数强度熵作为约束条件进行校正的。但是该方法容易出现过度校正的情况。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质，以改善现有校正方法对于渐晕图像存在过度校正的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例通过如下方式实现：

第一方面，本实施例提供一种渐晕图像校正的方法，包括：获取待校正的渐晕图像；基于所述渐晕图像与校正图像的换算公式计算在满足预设约束条件下的不同校正参数对应下的校正图像的对数强度熵；从计算出的校正图像的对数强度熵中选取不小于预设阈值且最小的对数强度熵，作为目标对数强度熵；将基于所述目标对数强度熵对应的校正参数求得的校正图像作为目标校正图像。在本申请实施例中，先基于渐晕图像与校正图像的换算公式计算在满足预设条件下的不同校正参数对应下的校正图像的对数强度熵，再从计算出的校正图像的对数强度熵中选取不小于预设阈值且最小的对数强度熵作为目标对数强度熵，最后基于目标对数强度熵对应的校正参数求得的校正图像作为目标校正图像。该方法在对渐晕图像的校正中，在现有采用最小化对数强度熵对渐晕图像进行校正的约束条件下增加了一个预设阈值作为约束条件，防止出现图像过度校正的情况，进而提高了渐晕图像校正的准确性。

结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实现方式中，所述预设阈值通过如下步骤得到，包括：对所述渐晕图像进行卷积处理，得到模拟参数；对所述渐晕图像与所述模拟参数作商，得到模拟原图像；将所述模拟原图像的对数强度熵，作为预设阈值。在本申请实施例中，首先对渐晕图像进行卷积，得到模拟参数，在对渐晕图像与模拟参数作商得到模拟原图像，通过将渐晕图像进行卷积，可以使图像中的物体和结构被平滑地去除，提高了对渐晕图像的模拟还原度，最后将模拟原图像的对数强度熵作为预设阈值，使得最终渐晕校正的图像更加接近无渐晕的原图像，提高了渐晕图像校正的还原度。