[发明专利]一种发光二极管芯片及其制造方法在审
申请号: | 201910400488.X | 申请日: | 2019-05-15 |
公开(公告)号: | CN110148654A | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 吕振兴;李鑫鑫;刘亚柱;王晓燕;齐胜利 | 申请(专利权)人: | 合肥彩虹蓝光科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L27/15;H01L33/14;H01L33/38 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 代玲 |
地址: | 230011 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外延结构 隔离槽 衬底 发光二极管芯片 移除 图案化光阻层 暴露 半导体层 制造 电流扩展层 电流阻挡层 发光效率 金属电极 一次曝光 钝化层 | ||
本发明提出一种发光二极管芯片及其制造方法,包括:提供一衬底;形成外延结构于所述衬底上;形成电流阻挡层于所述外延结构上;形成电流扩展层于所述外延结构上,以及移除部分所述外延结构,形成凹槽;所述凹槽暴露出第二半导体层;移除部分所述外延结构,形成隔离槽;所述隔离槽暴露出所述衬底;形成钝化层于所述外延结构,所述凹槽暴露的第二半导体层以及所述隔离槽暴露的衬底上;形成金属电极于所述外延结构上;其中,形成所述隔离槽的步骤包括:形成图案化光阻层于所述外延结构上;移除部分所述外延结构,形成所述隔离槽;其中,通过至少一次曝光形成所述图案化光阻层。通过本发明制造的发光二极管芯片发光效率高,且能够在高压下工作。
技术领域
本发明涉及半导体领域,特别涉及一种发光二极管芯片及其制造方法。
背景技术
发光二极管(简称LED)是一种能够将电能有效转化为光能的半导体器件,是目前最具前景之一的绿色光源,已经广泛应用于照明和背光等领域。随着近些年来LED制造技术的成熟,其应用范围也越来越广泛。
随着半导体集成技术的高速发展,一种称为高压芯片的LED结构应运而生,此种结构的LED一般是在发光半导体层形成后,通过光刻刻蚀工艺在所述发光半导体层上形成隔离槽,再在隔离槽内填充绝缘材料,最后在各绝缘分离的发光半导体层上制作电极并形成串联结构;此种结构的LED能够满足现阶段某些照明领域对LED发光亮度之需求,然而要同时满足人们对发光均匀性以及器件良率和可靠性的需求,赢得人们对LED照明光源的信赖和忠诚,将阻挡层技术和/或扩展辅助层技术结合于高压芯片技术中势在必行。由于其高压产品生产流程及工艺的特殊性,导致其制造良率低、一致性差。因此,开发一种制造流程简单、生产良率高的高压LED芯片制造方法具有重大意义。
发明内容
鉴于现有技术的问题,本发明提出一种发光二极管芯片的制造方法,以提高高压发光二极管芯片的生产良率。
为实现上述目的及其他目的,本发明提出一种发光二极管芯片的制造方法,至少包括以下步骤:
提供一衬底;
形成外延结构于所述衬底上,其中,所述外延结构至少包括第一半导体层,发光层,第二半导体层;
形成电流阻挡层于所述外延结构的第一半导体层上;
形成电流扩展层于所述外延结构上,以及移除部分所述外延结构,形成凹槽;所述凹槽暴露出第二半导体层;
移除部分所述外延结构,形成隔离槽;所述隔离槽暴露出所述衬底;
形成钝化层于所述外延结构,所述凹槽暴露的第二半导体层以及所述隔离槽暴露的衬底上;
形成金属电极于所述外延结构上;
其中,形成所述隔离槽的步骤包括:
形成图案化光阻层于所述外延结构上;
移除部分所述外延结构,形成所述隔离槽;
其中,通过至少一次曝光形成所述图案化光阻层。
在一实施例中,所述第二半导体层位于所述衬底上,所述发光层位于所述第二半导体层上,所述第一半导体层位于所述发光层上,所述第一半导体层包括P型半导体层,所述第二半导体层包括N型半导体层。
在一实施例中,所述电流阻挡层位于所述第一半导体层上,所述电流阻挡层的厚度在1000-4800埃。
在一实施例中,形成所述凹槽的步骤包括:
形成电流扩展层于所述外延结构上;
移除部分所述电流扩展层,形成图案化电流扩展层;
移除部分所述外延结构,形成凹槽;以及
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