[发明专利]一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置

权利要求书

1.一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同，M为自然数；

获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数，获取出现次数最多的第一单元；

对第一单元的时间违反进行修复处理。

2.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，所述“获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同”具体包括：

获取端角中的所有存在保持时间违反的时序路径，并依据预设删除规则对所有存在保持时间违反的时序路径进行处理，从而得到M条时序路径；所述预设删除规则具体包括：当若干条时序路径的终点单元相同时，仅保留保持时间违反值最大的时序路径。

3.根据权利要求1所述的修复方法，其特征在于，所述“对第一单元的时间违反进行修复处理”具体包括：

获取第一单元所处的N条时序路径、以及N条时序路径所对应的建立时间余量，获取缓冲单元，所述缓冲单元的延迟时间均小于N条时序路径建立时间余量；在成功获取所述缓冲单元时，在第一单元的输出端插入缓冲单元，第一单元修复成功，否则第一单元修复失败。

4.根据权利要求3所述的修复方法，其特征在于，还包括以下步骤：

当第一单元修复成功时，从所述全部单元去除第一单元以及所述N条时序路径中的所有单元，得到剩余单元；否则，去除第一单元得到剩余单元；

持续执行以下修复操作，直至所述剩余单元为空；所述修复操作具体包括：从所述剩余单元中获取出现次数最多的第二单元，对第二单元的保持时间违反进行修复处理，从所述剩余单元去除第二单元，当第二单元修复成功时，从所述剩余单元去除与第二单元属于同一时序路径的所有单元。

5.一种用于集成电路的保持时间违反的修复装置，其特征在于，包括以下模块：

第一获取模块，用于获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同，M为自然数；

第二获取模块，用于获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数，获取出现次数最多的第一单元；

第一修复模块，用于对第一单元的时间违反进行修复处理。

6.根据权利要求5所述的修复装置，其特征在于，所述第二获取模块还用于：获取端角中的所有存在保持时间违反的时序路径，并依据预设删除规则对所有存在保持时间违反的时序路径进行处理，从而得到M条时序路径；所述预设删除规则具体包括：当若干条时序路径的终点单元相同时，仅保留保持时间违反值最大的时序路径。

7.根据权利要求5所述的修复装置，其特征在于，所述第一修复模块还用于：

获取第一单元所处的N条时序路径、以及N条时序路径所对应的建立时间余量，获取缓冲单元，所述缓冲单元的延迟时间均小于N条时序路径建立时间余量；在成功获取所述缓冲单元时，在第一单元的输出端插入缓冲单元，第一单元修复成功，否则第一单元修复失败。

8.根据权利要求7所述的修复装置，其特征在于，还包括，

当第一单元修复成功时，从所述全部单元去除第一单元以及所述N条时序路径中的所有单元，得到剩余单元；否则，去除第一单元得到剩余单元；

持续执行以下修复操作，直至所述剩余单元为空；所述修复操作具体包括：从所述剩余单元中获取出现次数最多的第二单元，对第二单元的保持时间违反进行修复处理，从所述剩余单元去除第二单元，当第二单元修复成功时，从所述剩余单元去除与第二单元属于同一时序路径的所有单元。

9.一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

持续执行以下操作：将所述集成电路分割为若干端角，对每个端角都执行权利要求1-4任一项所述的修复方法；直至所述集成电路符合预设条件。

10.一种用于集成电路的保持时间违反的修复装置，其特征在于，包括以下模块：

第三修复模块，用于持续执行以下操作：将所述集成电路分割为若干端角，对每个端角都执行权利要求1-4任一项所述的修复方法；直至所述集成电路符合预设条件。