[发明专利]一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置

说明书

本发明提供了一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置，所述修复方法包括以下步骤：获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同，M为自然数；获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数，获取出现次数最多的第一单元；对第一单元的时间违反进行修复处理。从而提供了一种速度快、且插入缓冲单元数量少的保持时间违反的修复方法和装置。

技术领域

本发明涉及超大规模集成电路设计、制造技术领域，尤其涉及一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置。

背景技术

在现代大规模集成电路设计过程中，自动布局布线工具会主动的尝试修复保持时间违反，在实际的工作中，发现这些工具修复保持时间违例的处理上能力有限。一般情况下，需要大量的人力做长时间反复的修复工作，此项工作会可观的耗费芯片设计产出周期。且随着集成电路的发展，电路集成度越来越高，时序越来越复杂，人工修正不仅费时，而且往往得不到最优的修复，通常导致开发周期的延长。

在现有技术中，当发现一条时序路径存在保持时间违反时，通常会在该时序路径的终点单元处插入缓冲单元，可以理解的是，由于集成电路的集成度往往都很高，且存在保持时间违反的时序路径的数量有可能会很大(这会导致插入数量很多的缓冲单元)，从而导致本来就非常紧张的资源更加紧张，并且有可能导致无法修复。

因此，如何设计一种速度快、且插入缓冲单元数量少的保持时间违反的修复方法和装置，就成为一个亟待解决的问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置。

为了达到上述目的，本发明的技术方案如下：

一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法，包括以下步骤：获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同，M为自然数；获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数，获取出现次数最多的第一单元；对第一单元的时间违反进行修复处理。

可选的，所述“获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同”具体包括：获取端角中的所有存在保持时间违反的时序路径，并依据预设删除规则对所有存在保持时间违反的时序路径进行处理，从而得到M条时序路径；所述预设删除规则具体包括：当若干条时序路径的终点单元相同时，仅保留保持时间违反值最大的时序路径。

可选的，所述“对第一单元的时间违反进行修复处理”具体包括：获取第一单元所处的N条时序路径、以及N条时序路径所对应的建立时间余量，获取缓冲单元，所述缓冲单元的延迟时间均小于N条时序路径建立时间余量；在成功获取所述缓冲单元时，在第一单元的输出端插入缓冲单元，第一单元修复成功，否则第一单元修复失败。

可选的，还包括以下步骤：当第一单元修复成功时，从所述全部单元去除第一单元以及所述N条时序路径中的所有单元，得到剩余单元；否则，去除第一单元得到剩余单元；持续执行以下修复操作，直至所述剩余单元为空；所述修复操作具体包括：从所述剩余单元中获取出现次数最多的第二单元，对第二单元的保持时间违反进行修复处理，从所述剩余单元去除第二单元，当第二单元修复成功时，从所述剩余单元去除与第二单元属于同一时序路径的所有单元。

本发明实施例还提供了一种用于集成电路的保持时间违反的修复装置，包括以下模块：第一获取模块，用于获取M条存在保持时间违反的时序路径，其中，任意两条时序路径的终点单元均不相同，M为自然数；第二获取模块，用于获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数，获取出现次数最多的第一单元；第一修复模块，用于对第一单元的时间违反进行修复处理。