[发明专利]探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备

权利要求书

1.一探针座，呈长条状，该探针座上设有一贯通两侧的第一长槽孔；该探针座的上端一侧设有一第一安装面；

一针部件，呈薄片状，该针部件设于该第一安装面上。

2.如权利要求1所述的探针，其中，该第一安装面上凸设有多个定位部，该针部件上开设有多个定位孔，其对应该多个定位部。

3.如权利要求1所述的探针，其中，该探针座的下端另一侧设有一第二安装面，该第二安装面上设有一连接端子。

4.如权利要求3所述的探针，其中，该第一长槽孔贯通该探针座的一第一侧面与一第二侧面；该第一安装面设于该探针座的一第三侧面上端，该第二安装面设于该探针座的一第四侧面下端；该第一侧面、该第二侧面与该第三侧面、第四侧面相互垂直。

5.如权利要求1所述的探针，其中，该探针座于该第一长槽孔下方设有一第二长槽孔，该第一长槽孔与该第二长槽孔的开口方向相同。

6.一种探针模组，包括：

一罩壳，设有多个滑槽，该多个滑槽内各设有一销体；

多支探针，各设有一第一长槽孔，该多支探针可分别在对应的滑槽内滑移，该销体可穿经该第一长槽孔；各探针的第一长槽孔内各设有一弹性件，其顶撑在该销体与该第一长槽孔的一上端表面之间，使该第一长槽孔的一下端表面顶触在该销体下方。

7.如权利要求6所述的探针模组，其中，该探针设有一探针座与一针部件，该第一长槽孔设于该探针座上，该探针座具有矩形截面。

8.如权利要求7所述的探针模组，其中，该探针座上设有一第二长槽孔于该第一长槽孔的下方。

9.如权利要求7所述的探针模组，其中，该探针座的上端一侧设有一第一安装面，可供该针部件固定于其上；该探针座的下端另一侧设有一第二安装面，可供一连接端子固定于其上。

10.如权利要求9所述的探针模组，其中，该第一长槽孔贯通该探针座的一第一侧面与一第二侧面；该第一安装面设于该探针座的一第三侧面上端，该第二安装面设于该探针座的一第四侧面下端；该第一侧面、该第二侧面与该第三侧面、第四侧面相互垂直。

11.如权利要求9所述的探针模组，其中，该针部件与该连接端子皆显露出该罩壳外。

12.如权利要求6所述的探针模组，其中，该罩壳设有两个外罩与一片状的间隔件；该外罩的内侧设有以一片状间隔部隔开的两个相互平行的滑槽；该间隔件被夹设在两个外罩之间；该销体两端分别插入该外罩与该间隔件对应的销孔，使该销体固定于该外罩与该间隔件之间。

13.如权利要求6所述的探针模组，其中，该销体位于该第一长槽孔内的一端设有一水平的抵靠面，该弹性件抵撑在该销体的抵靠面与该第一长槽孔的上端表面之间。

14.一种探针装置，使用如权利要求6至13中任一权利要求所述的探针模组，包括：

一座架，设有一移动区间与一驱动机构；

一移动机构，设于该座架的该移动区间内，该移动机构设有一移动件与一支撑件；该移动机构可受该驱动机构驱动在该移动区间内上、下往复移动；

该探针模组设于该支撑件上，可受该移动机构的连动而上、下往复移动。

15.一种电子元件检测方法，使用如权利要求14所述的探针装置，包括：

使多支探针各自在对应的滑槽内滑移，并各自受滑槽内对应的弹性件顶撑；

在电子元件受一间歇性旋转的转盘搬运至探针装置上方时，移动机构受驱动模组驱动而连动探针模组位移；

使多支探针在接触电子元件进行特性检测时，多支探针各自在对应的滑槽内位移压缩对应的弹性件。

16.一种电子元件检测设备，使用如权利要求14所述的探针装置，包括：

一工作台面；

一转盘，设于该工作台面上，其周缘环列布设等间距且设有朝外开口的容槽，电子元件在该容槽内以一间歇旋转流路受该转盘搬送；

该探针装置设于该工作台面的下方，用以对该容槽内的电子元件进行检测。