[发明专利]探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备

说明书

本发明提供一种探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，该探针模组包括：一罩壳，设有多个滑槽，该多个滑槽内各设有一销体；多支探针，各设有一第一长槽孔，该多支探针可分别在对应的滑槽内滑移，该销体可穿经该第一长槽孔；各探针的第一长槽孔内各设有一弹性件，其顶撑在该销体与该第一长槽孔的一上端表面之间，使该第一长槽孔的一下端表面顶触在该销体下方。

技术领域

本发明有关于一种探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，尤指一种可对电子元件进行检测的探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备。

背景技术

一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分类的程序来进行包装或分类，专利号第M452344号「电子元件检测装置」已揭示一种用于进行高电压、高电流与高频率检测的探针装置，其探针构造设有一呈片状的固定部、一呈条状且较粗、短的针部与一连结在两者之间呈片状且较细、长的连结部；该针部设于该固定部的斜上方，该连结部由该固定部的顶部向上斜向延伸至针部的底部，使该连结部的下侧缘与该固定部的上端缘间形成锐角的夹角，且该连结部的下侧缘与该固定部的上端缘间形成一镂空的缓冲区；在该针部与电子元件接触进行检测时，针部因承受了电子元件的重量而对倾斜的该连结部施加向下的压力，使该连结部向下弯曲产生些微变形并蓄积弹性回复力而达到缓冲的效果。

发明内容

已知探针装置在对电子元件进行检测时，是利用探针的连结部来达到缓冲的效果，但因电子元件的重量极为轻巧，故该连结部的下侧缘不仅须与该固定部的上端缘形成锐角，且该连结部须有一定程度的长度方能确保电子元件的重量可使该连结部产生些微变形而达到缓冲的效果；此种探针构造的针部通常位于该固定部的斜上方，如此会造成探针构造的整体水平宽度增加，又因电子元件通常极为微小，一颗电子元件又至少须同时以多支探针进行检测，故探针在探针装置内的空间配置变得较为复杂，常令设计者煞费苦心的进行空间规划，造成制造成本的增加；此外，此种探针构造通常为一体成型，该相同的连结部不能对应于不同重量的电子元件，故在对不同重量的电子元件进行检测时，设计者亦须重新设计该连结部可承载的重量且操作者须配合更换不同的新探针构造，如此亦造成使用成本的增加。

因此，本发明的目的，在于提供一种可减少成本的探针。

本发明的另一目的，在于提供一种可减少成本的探针模组。

本发明的又一目的，在于提供一种可减少成本的探针装置。

本发明的又另一目的，在于提供一种可减少成本的电子元件检测方法。

本发明的再一目的，在于提供一种可减少成本的电子元件检测设备。

依据本发明目的的探针，包括：一探针座，呈长条状，该探针座上设有一贯通两侧的第一长槽孔；该探针座的上端一侧设有一第一安装面；一针部件，呈薄片状，该针部件设于该第一安装面上。

依据本发明另一目的的探针模组，包括：一罩壳，设有多个滑槽，该多个滑槽内各设有一销体；多支探针，各设有一第一长槽孔，该多支探针可分别在对应的滑槽内滑移，该销体可穿经该第一长槽孔；各探针的第一长槽孔内各设有一弹性件，其顶撑在该销体与该第一长槽孔的一上端表面之间，使该第一长槽孔的一下端表面顶触在该销体下方。

依据本发明又一目的的探针装置，是使用如所述探针模组，包括：一座架，设有一移动区间与一驱动机构；一移动机构，设于该座架的该移动区间内，该移动机构设有一移动件与一支撑件；该移动机构可受该驱动机构驱动在该移动区间内上、下往复移动；该探针模组设于该支撑件上，可受该移动机构的连动而上、下往复移动。