[发明专利]驱动过流检测电路

说明书

一种驱动过流检测电路，包括：驱动管、第一NMOS管、基准电流源、比较电路以及第一阻抗器件，其中：基准电流源，输出端与第一阻抗器件的第一端以及第一NMOS管的漏极耦接；第一阻抗器件的第一端与比较电路的第一输入端耦接，第二端与比较电路的第二输入端耦接；比较电路，适于将第一输入端输入的电流与第二输入端输入的电流进行比较，并输出比较结果；驱动管的栅极输入控制信号，漏极与第一阻抗器件的第二端、比较电路的第二端以及驱动负载耦接，源极与地耦接；第一NMOS管的漏极与比较电路的第一端、第一阻抗器件的第一端耦接，栅极输入控制信号，源极与地耦接。上述方案能够精确地判断驱动器件是否过流。

技术领域

本发明涉及电路领域，尤其涉及一种驱动过流检测电路。

背景技术

驱动管等驱动器件在工作时，由于驱动管自身的电阻较小，驱动管上流经的电流由驱动管耦接的负载决定。当负载较小，甚至负载短路时，驱动管上流经的电流较大，驱动管容易出现过流的情况。当驱动管过流时，会对驱动管或者负载造成严重损坏。因此，需要对驱动管的输出电流进行限制，以避免上述情况的发生。

现有技术中，为判断是否有驱动管过流的情况发生，一种方案是在驱动管与地之间串联电阻。由于驱动管上流经的电流流过电阻，因此可以通过电阻的压降来判断驱动管是否出现过流的情况。然而，驱动管的输出阻抗越小越好，否则大部分的功率消耗在驱动管本身而非负载，就达不到驱动的目的。在驱动管与地之间串联电阻之后，驱动管等效输出阻抗就增加了，影响了驱动管的性能。另一种判断驱动管是否过流的方案是直接测量驱动管上的压降进而判断是否过流。然而，由于温度、工艺等偏差，驱动管上的压降与流经驱动管的电流并不能精准按照方案设想对应。

现有的避免驱动器件过流的方案，无法在不影响驱动性能条件下精确地判断驱动器件是否过流。

发明内容

本发明解决的是避免驱动器件过流的方案中，无法精确地判断驱动器件是否过流的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种驱动过流检测电路，包括：驱动管、第一NMOS管、基准电流源、比较电路以及第一阻抗器件，其中：所述基准电流源，输出端与所述第一阻抗器件的第一端以及第一NMOS管的漏极耦接，适于生成基准电流并输出；所述第一阻抗器件的第一端与所述比较电路的第一输入端耦接，第二端与所述比较电路的第二输入端耦接；所述比较电路，适于将所述第一输入端输入的电流与所述第二输入端输入的电流进行比较，并输出比较结果；当所述第二输入端输入的电流大于所述第一输入端输入的电流时，所述比较结果为判定所述驱动管过流；所述驱动管的栅极输入控制信号，漏极与所述第一阻抗器件的第二端、所述比较电路的第二端以及驱动负载耦接，源极与地耦接；所述第一NMOS管的漏极与所述比较电路的第一端、所述第一阻抗器件的第一端耦接，栅极输入所述控制信号，源极与地耦接。

可选的，所述第一阻抗器件为电阻。

可选的，所述第一阻抗器件为第二NMOS管；所述第二NMOS管的源极为所述第一阻抗器件的第一端，所述第二NMOS管的漏极为所述第一阻抗器件的第二端，所述第二NMOS管的栅极与所述第一NMOS管的栅极耦接。

可选的，所述驱动过流检测电路还包括：第二阻抗器件以及第三阻抗器件，其中：所述第二阻抗器件的第一端与所述基准电流源的输出端耦接，所述第二阻抗器件的第二端与所述第一阻抗器件的第一端耦接；所述第三阻抗器件的第一端与所述第一阻抗器件的第二端耦接，所述第三阻抗器件的第二端与所述驱动管的漏极耦接。

可选的，所述第二阻抗器件为第三NMOS管；所述第三NMOS管的源极为所述第二阻抗器件的第一端，所述第三NMOS管的漏极为所述第二阻抗器件的第二端，所述第三NMOS管的栅极与所述第一NMOS管的栅极耦接。

可选的，所述第二阻抗器件为电阻。