[发明专利]一种基于非接触式建筑物测量的四点共面检测方法

说明书

本发明属于建筑物测量技术领域，公开一种基于非接触式建筑物测量的四点共面检测方法，包括如下步骤：1)确定四个建筑物被测点，2）第一被测点D1测量，3）第二被测点D2测量，4）第三被测点D3测量，5）第四被测点D4测量，6）判断四个被测点D1、D2、D3和D4是否在同一平面上。通过非接触式测量被测面四个点的相关参数，快速精准计算被测面的四点是否在一个平面。

技术领域

本发明属于建筑物测量技术领域，尤其涉及一种基于非接触式建筑物测量的四点共面检测方法。

背景技术

在建设工程领域，为检测建筑构件质量，涉及大量的判断被测物是否平整的检测工作，对于大型建筑构件，往往难以直接接触测量。现有市场上的平整度测量装置，主要采用直尺、塞尺、靠尺和全站仪等测量装置。

目前判断被测物是否平整的检测方法，存在各种弊端,有的方法需要抵近被测物体进行接触式直接测量，对于高大尺寸被测物体，存在难以直接接触式测量或测量成本高问题，而且测量误差大。有的方法能够实现非接触式测量，但存在测量装置复杂、测量条件要求高、测量数据误差大、检测计算复杂等问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术的上述问题，提供一种基于非接触式建筑物测量的四点共面检测方法，通过非接触式测量被测面四个点的相关参数，快速精准计算被测面的四点是否在一个平面，相对于其它方法，解决了直接接触测量困难、检测误差大和检测计算复杂等问题。

为实现上述发明目的，本发明的技术方案是：

一种基于非接触式建筑物测量的四点共面检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)确定四个被测点，并按照被测点的空间关系从左到右分别标记为第一被测点D1、第二被测点D2、第三被测点D3和第四被测点D4；

2)第一被测点D1测量，测量测量点O与第一被测点D1的距离L1，测量测量点O与第一被测点D1的连线O-D1相对水平面的夹角a1，第一被测点D1测量结束；

3)第二被测点D2测量，测量测量点O与第二被测点D2的距离L2，测量测量点O与第二被测点D2的连线O-D2相对水平面的夹角a2，测量连线O-D1的水平投影线与连线O-D1的水平投影线的夹角b12，第二被测点D2测量结束；

4)第三被测点D3测量，测量测量点O与第三被测点D3的距离L3，测量测量点O与第三被测点D3的连线O-D3相对水平面的夹角a3，测量连线O-D2的水平投影线与连线O-D3的水平投影线的夹角b23，第三被测点D3测量结束；

5)第四被测点D4测量，测量测量点O与第四被测点D4的距离L4，测量测量点O与第三被测点D4的连线O-D4相对水平面的夹角a4，测量连线O-D3的水平投影线与连线O-D4的水平投影线的夹角b34，第四被测点D4测量结束。

6)判断四个被测点D1、D2、D3和D4是否在同一平面上。

优选地，第6步，根据计算公式：X1＝0

Y1＝L1*cos(a1)，Z1＝L1*sin(a1)，

X2＝L2*cos(a1)*sin(b12)，

Y2＝L2*cos(a1)*cos(b12)，Z2＝L2*sin(a2)，

X3＝L3*cos(a3)*sin(b12+b23)，Y3＝L3*cos(a3)*cos(b12+b23)，

Z3＝L3*sin(a3)，

X4＝L4*cos(a4)*sin(b12+b23+b34)，Y4＝L4*cos(a4)*cos(b12+b23+b34)，

Z4＝L4*sin(a4)，