[发明专利]光纤端面抛光检测设备及方法有效

专利信息
申请号: 201910430030.9 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN110082860B 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 谢小波;赵毅 申请(专利权)人: 江苏宇特光电科技股份有限公司
主分类号: G02B6/25 分类号: G02B6/25;G01N21/88;G01N21/94;G01B11/255
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 刘丰;熊敏敏
地址: 211700 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光纤 端面 抛光 检测 设备 方法
【权利要求书】:

1.光纤端面抛光检测设备,其特征在于,包括电源装置、光源、摄像装置、图像处理装置、图像显示装置、驱动装置、放电装置、光纤夹具装置;

所述电源装置分别为光源、摄像装置、图像处理装置、图像显示装置、放电装置供电;

所述放电装置由电极组组成;

所述摄像装置包括CCD芯片与倍率物镜,用于拍摄光纤端面的图像;

所述图像处理装置从摄像装置获取图像,将图像输出到图像显示装置;

所述光纤夹具装置由驱动装置驱动沿倍率物镜轴向移动;光纤夹具装置设置光纤固定槽,倍率物镜与光纤固定槽相对且同轴,电极组轴心连线与光纤固定槽的轴线成一定角度;

所述光源为环形光源,所述光源与光纤固定槽相对,光源发射的光线与光纤固定槽轴线成入射角度,使得光源的部分光线被光纤端面反射到倍率物镜中由CCD芯片接收,并在光纤端面存在曲率半径时在图像显示装置中呈现亮环;所述光纤端面的曲率半径越大亮环宽度越窄,亮环内径越大,反之光纤端面曲率半径越小亮环宽度越宽,亮环内径越小;

对经过热熔后的光纤端面进行环形光源照射,获取放电热熔后的经过光照的光纤端面,根据该光纤端面的反光图像获得该光纤端面的曲率半径是否合格;曲率半径合格是指,所述亮环内径在预设的半径R1的圆到预设的半径R2的圆之间的区间内。

2.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述电极组由两个对称电极组成。

3.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述放电装置从图像处理装置接收放电指令。

4.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述摄像装置焦点定位于以电极组轴心连线的中点为球心,指定半径的球形范围内。

5.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述一定角度为90度。

6.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,如光纤端面存在附着物时,光源的部分光线被光纤反射被CCD芯片接收,在光纤端面圆周外形成亮暗斑。

7.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,如光纤端面存在切割伤时,光源的部分光线在光纤端面圆周内形成亮斑。

8.根据权利要求1所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述入射角度为45度。

9.根据权利要求1~8任一所述的光纤端面抛光检测设备,其特征在于,所述驱动装置为电机驱动装置,由电源供电,从图像处理装置接收控制指令。

10.一种光纤端面抛光检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

调整光纤夹具装置的步骤,通过驱动装置调整光纤夹具装置的位置,使得光纤端面位于倍率物镜的焦点后,锁定光纤夹具装置;

抛光步骤,利用放电装置对光纤端面进行放电热熔处理;

检测步骤,以一定入射角度对经过热熔后的光纤端面进行环形光源照射,获取放电热熔后的经过光照的光纤端面,根据该光纤端面的反光图像获得该光纤端面的曲率半径是否合格;

根据预设的曲率半径对比放电热熔后的光纤端面的曲率半径;

所述检测步骤包括:

采集光纤端面图像的步骤,图像处理装置对摄像装置采集过来的图像进行前景分割之后获得光纤端面的图像;

二值化处理的步骤,将摄像装置采集的光纤端面图像传送给图像装置进行黑白二值化处理;

计算对比的步骤,计算光纤端面的曲率半径,并与在图像处理装置预设光纤端面的曲率半径的标准范围参数进行比对,如果比对结果符合预定义,则结束操作;否则追加一次抛光步骤,并重复采集光纤端面图像的步骤、二值化处理的步骤后重新计算比对,直至光纤端面曲率半径低于预设的最小值,则结束操作;曲率半径符合预定义是指,形成的亮环内径在预设的半径R1的圆到预设的半径R2的圆之间的区间内。

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