[发明专利]一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。

2.根据权利要求1所述的一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：还包括转盘，转盘设置在壳体内，电机设置在壳体的外侧，电机的驱动轴伸入壳体内驱动转盘转动，所述的闪烁体设置在转盘的盘面上，所述的闪烁体整体为环形，中子发生源对应闪烁体设置。

3.根据权利要求1所述的一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：还包括与微处理器连接的触摸显示器。

4.根据权利要求1所述的一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：所述的壳体的上设有抽真空管。

5.一种中子束流的脉冲周期测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，在一个密闭的壳体内设置一个环形的闪烁体，闪烁体可绕其中心转动，匀速的驱动闪烁体转动；

步骤二，中子发生源向壳体内的闪烁体的入射面发射中子，使至少一个周期的中子束射到闪烁体上；

步骤三，闪烁体上的发光信号通过光纤传递给光电倍增管，光电倍增管再把信号发送给微处理器，微处理器记录接收到的信号数量及强度；

步骤四，微处理器对单位时间内的信号数量及强度的数据信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。