[发明专利]一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法

说明书

本发明提出了一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。

技术领域

本发明涉及一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法。

背景技术

散裂中子源是通过加速器驱动高能质子轰击重金属靶体，从而得到高中子通量的中子束流。先进的中子源是中子科学研究的基础，能够为物质微观结构和运动状态的研究提供必要的工具。质子加速轰击钨靶产生出脉冲中子束流，同时也产生了快中子束。快中子束在每个中子束流脉冲周期的零时刻发出，随中子束流传输，如果全部到达样品，会对测试结果造成很大的背底，在不同研究和实验需要的中子束流波段不尽相同，因此，在快中子束流传输过程中，需要设计一种装置对快中子进行滤除，而又能放行需要的脉冲中子流束。例如：专利号为2017200036286的专利公开了一种散裂中子源快中子滤除装置。

这样就需要对中子束流脉冲周期进行测量，以便于根据不同波段的中子束流来进行过滤快中子。

发明内容

针对背景技术中指出的问题，本发明提出一种可对中子束流脉冲周期进行测试的装置及测试方法。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种中子束流的脉冲周期测试装置，包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。

本发明还进一步设置为，还包括转盘，转盘设置在壳体内，电机设置在壳体的外侧，电机的驱动轴伸入壳体内驱动转盘转动，所述的闪烁体设置在转盘的盘面上，所述的闪烁体整体为环形，中子发生源对应闪烁体设置。

本发明还进一步设置为，还包括与微处理器连接的触摸显示器。

本发明还进一步设置为，所述的壳体的上设有抽真空管。

一种中子束流的脉冲周期测试方法，包括如下步骤：

步骤一，在一个密闭的壳体内设置一个环形的闪烁体，闪烁体可绕其中心转动，匀速的驱动闪烁体转动；

步骤二，中子发生源向壳体内的闪烁体的入射面发射中子，使至少一个周期的中子束射到闪烁体上；

步骤三，闪烁体上的发光信号通过光纤传递给光电倍增管，光电倍增管再把信号发送给微处理器，微处理器记录接收到的信号数量及强度；

步骤四，微处理器对单位时间内的信号数量及强度的数据信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。

本发明的有益效果：

本发明提供的中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，其先通过电机来驱动闪烁体匀速转动，中子源再向闪烁体发射中子束，使大于一个周期内发射的中子束能完全射向闪烁体，这样闪烁体上就能发光，并通过光检测器产生电信号，并把该电信号发送给微处理器，由于快中子会区别于其他中子，具有更大的能量，这样接收到快中子的光检测元件就能发出更强的信号，微处理器接收该电信号，并进行电信号数量及强度的存储和处理，微处理器对单位时间内存储的电信号数量及强度信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。

附图说明