[发明专利]半透光掩膜版有效
申请号: | 201910440026.0 | 申请日: | 2019-05-24 |
公开(公告)号: | CN110209010B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 高攀 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 透光 掩膜版 | ||
本发明提供一种半透光掩膜版,其包括透光区、遮光区、以及半透光区,位于半透光区内的基板上设置有光谱调制层,该光谱调制层为掺杂了特定稀土配合物,可以将曝光照射光线中位于第一波长范围内的光线,转换成不能激发光阻发生反应的第二波长范围的光线。从而实现了半透光区曝光照射能量的减弱,达到了半透光的效果,且可以通过调节稀土配合物的种类、掺杂密度、以及光谱调制层的厚度等影响因子,来达到不同的光波转换率,以实现不同光阻层厚的控制。本发明提供的半透光掩膜版,半掩膜效果精准可控,且工艺简单、成本低,缓解了现有半透光掩膜版存在制备工艺复杂,成本高的问题。
技术领域
本发明涉及显示器制备领域,尤其涉及一种半透光掩膜版。
背景技术
半透光掩膜版由于兼备不透光、全透光、半透光的特性,在图案化制程可减少曝光显影次数,简化制备程序,已经普遍应用于显示器件的制备领域。
然而,由于半透光区域的存在,尤其是半透光区域和不透光区域交界处爬坡区域的存在,使得半透光掩膜版的设计和制作工艺难度大,制作成本高。
因此,现有半透光掩膜版存在制备工艺复杂,成本高的问题,有待解决。
发明内容
本发明提供一种半透光掩膜版,以缓解现有半透光掩膜版存在制备工艺复杂,成本高的问题。
为解决以上问题,本发明提供的技术方案如下:
本发明提供一种半透光掩膜版,用于刻蚀光阻,包括透光区、遮光区、以及半透光区,其特征在于,所述半透光掩膜版包括:
基板;
设置在基板上且位于遮光区内的遮光层;
设置在基板上且位于半透光区内的光谱调制层,用于将曝光照射光线中位于第一波长范围内的光线,转换成第二波长范围的光线,所述第二波长范围内的光线不能激发光阻发生反应。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述光谱调制层为稀土配合物掺杂的透明薄膜。
在本发明提供的半透光掩膜版中,在所述光谱调制层内,所述稀土配合物在不同位置的掺杂参数不同。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述稀土配合物在不同位置的掺杂密度不同。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述稀土配合物的掺杂密度,从所述光谱调制层的两边向所述光谱调制层的中间递减。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述稀土配合物的掺杂密度,从所述光谱调制层的两边向所述光谱调制层的中间递增。
在本发明提供的半透光掩膜版中,在所述光谱调制层内,存在至少两个位置的所述光谱调制层的厚度不同。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述光谱调制层的厚度,从所述光谱调制层的两边向所述光谱调制层的中间递减。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述光谱调制层的厚度,从所述光谱调制层的两边向所述光谱调制层的中间递增。
在本发明提供的半透光掩膜版中,所述光谱调制层部分覆盖所述遮光层。
本发明的有益效果为:本发明提供一种半透光掩膜版,其包括透光区、遮光区、以及半透光区,位于半透光区内的基板上设置有光谱调制层,该光谱调制层为掺杂了特定稀土配合物,可以将曝光照射光线中位于第一波长范围内的光线,转换成不能激发光阻发生反应的第二波长范围的光线。从而实现了半透光区曝光照射能量的减弱,达到了半透光的效果,且可以通过调节稀土配合物的种类、掺杂密度、以及光谱调制层的厚度等影响因子,来达到不同的光波转换率,以实现不同光阻层厚的控制。本发明提供的半透光掩膜版,半掩膜效果精准可控,且工艺简单、成本低,缓解了现有半透光掩膜版存在制备工艺复杂,成本高的问题。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910440026.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备